一种芯片可靠性测试装置的测试方法和系统

被引：0

申请号：

CN202211486891.7

申请日：

2022-11-25

公开(公告)号：

CN115617592A

公开(公告)日：

2023-01-17

发明(设计)人：

刘智力黄凯冯炯袁智巧胡立超

申请人：

申请人地址：

310012 浙江省杭州市西湖区华星路99号东软创业大厦A408

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213

代理人：

陈洁

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-17	公开	公开
2023-02-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20221125

共 50 条

[1]

芯片可靠性测试装置及芯片可靠性测试方法 [P].

董攀 ;

王延斌 .

中国专利 :CN118671552A ,2024-09-20

[2]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

邓仁辉 ;

罗跃浩 ;

赵山 ;

廉哲 .

中国专利 :CN114689910B ,2022-07-01

[3]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

马兰 ;

张军 ;

姚启龙 ;

李倩倩 .

中国专利 :CN119716460A ,2025-03-28

[4]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851B ,2024-09-20

[5]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

崔超 ;

赵云 ;

肖勇 ;

王浩林 ;

林伟斌 ;

罗奕 .

中国专利 :CN114814554B ,2024-09-17

[6]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

崔超 ;

赵云 ;

肖勇 ;

王浩林 ;

林伟斌 ;

罗奕 .

中国专利 :CN114814554A ,2022-07-29

[7]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851A ,2021-05-18

[8]

一种BMS芯片可靠性测试装置 [P].

于洪雨 ;

于章勇 ;

黄文龙 .

中国专利 :CN223538898U ,2025-11-11

[9]

电能表可靠性测试系统、方法和测试装置 [P].

应高强 ;

马粉莲 ;

文雅 ;

张志 ;

方晓健 ;

陈冰 ;

付彦灿 ;

周丽君 ;

陈芋宏 ;

楼卓鑫 .

中国专利 :CN117783994A ,2024-03-29

[10]

一种车载芯片可靠性失效性测试装置 [P].

刘笑涡 .

中国专利 :CN218181031U ,2022-12-30

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