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半导体整流器件动态寿命试验机及质量分级方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN87104597.4
申请日
:
1987-07-01
公开(公告)号
:
CN1030301A
公开(公告)日
:
1989-01-11
发明(设计)人
:
赵富
李增锡
葛淑欣
霍一平
申请人
:
申请人地址
:
河北省石家庄市长安东路12号
IPC主分类号
:
G01R3126
IPC分类号
:
代理机构
:
河北省专利事务所
代理人
:
王苑祥
法律状态
:
专利权的终止未缴年费专利权终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
1995-08-23
专利权的终止未缴年费专利权终止
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-09-23
授权
授权
1989-10-25
实质审查请求
实质审查请求
1991-02-27
审定
审定
1989-01-11
公开
公开
共 50 条
[1]
半导体整流器件动态质量分选装置
[P].
赵富
论文数:
0
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0
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赵富
;
李曾锡
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李曾锡
;
葛淑欣
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葛淑欣
;
霍一平
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霍一平
.
中国专利
:CN87209491U
,1988-05-11
[2]
半导体整流器件
[P].
唐兴军
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0
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唐兴军
;
王亚
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王亚
.
中国专利
:CN211957633U
,2020-11-17
[3]
半导体整流器件
[P].
钱淼
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钱淼
;
李飞帆
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李飞帆
;
邱显羣
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0
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邱显羣
.
中国专利
:CN216413080U
,2022-04-29
[4]
半导体整流器件动态分析仪和质量分析方法
[P].
赵富
论文数:
0
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赵富
;
李增锡
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李增锡
;
葛淑欣
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葛淑欣
;
乔子高
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乔子高
.
中国专利
:CN1008218B
,1986-09-03
[5]
半导体整流器件及其制造方法
[P].
龙涛
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机构:
达尔科技股份有限公司
达尔科技股份有限公司
龙涛
;
陈则瑞
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机构:
达尔科技股份有限公司
达尔科技股份有限公司
陈则瑞
;
黃品豪
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0
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机构:
达尔科技股份有限公司
达尔科技股份有限公司
黃品豪
;
黄宝顺
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0
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机构:
达尔科技股份有限公司
达尔科技股份有限公司
黄宝顺
.
美国专利
:CN119521689A
,2025-02-25
[6]
半导体整流器件及其制造方法
[P].
龙涛
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机构:
达尔科技股份有限公司
达尔科技股份有限公司
龙涛
;
陈则瑞
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机构:
达尔科技股份有限公司
达尔科技股份有限公司
陈则瑞
;
黃品豪
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机构:
达尔科技股份有限公司
达尔科技股份有限公司
黃品豪
;
P·K·高锐
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机构:
达尔科技股份有限公司
达尔科技股份有限公司
P·K·高锐
;
周禮賢
论文数:
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机构:
达尔科技股份有限公司
达尔科技股份有限公司
周禮賢
.
美国专利
:CN119277806A
,2025-01-07
[7]
低功耗半导体整流器件
[P].
张雄杰
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张雄杰
;
何洪运
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何洪运
;
程琳
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程琳
.
中国专利
:CN105826290A
,2016-08-03
[8]
低功耗半导体整流器件
[P].
陈伟元
论文数:
0
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陈伟元
.
中国专利
:CN106158779A
,2016-11-23
[9]
半导体整流器件及其制作方法
[P].
钟圣荣
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钟圣荣
;
邓小社
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邓小社
;
周东飞
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周东飞
.
中国专利
:CN105789331B
,2016-07-20
[10]
一种半导体整流器件
[P].
朱袁正
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朱袁正
;
周名辉
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周名辉
;
钱叶华
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钱叶华
.
中国专利
:CN201153122Y
,2008-11-19
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