发光元件的检测装置及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210306546.0

申请日：

2012-08-24

公开(公告)号：

CN102980742A

公开(公告)日：

2013-03-20

发明(设计)人：

神保秀山口宪荣小屋原桂太

申请人：

申请人地址：

日本国东京都武藏野市吉祥寺本町2丁目6番8号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

上海市华诚律师事务所 31210

代理人：

肖华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-06-03	授权	授权
2013-04-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101438919023 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2012103065460 申请日:20120824
2022-08-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20120824 授权公告日:20150603 终止日期:20210824
2013-03-20	公开	公开

共 50 条

[1]

发光元件的检测方法、检测装置及基板 [P].

吴弘智 .

中国专利 :CN112331578A ,2021-02-05

[2]

发光元件及检测装置 [P].

李宝雨 .

中国专利 :CN111785764B ,2020-10-16

[3]

一种微发光元件的巨量检测装置及检测方法 [P].

沈欢 ;

刘操 .

中国专利 :CN120527254A ,2025-08-22

[4]

一种检测装置以及发光元件的检测方法 [P].

翟峰 .

中国专利 :CN115602661B ,2024-05-17

[5]

一种检测装置以及发光元件的检测方法 [P].

翟峰 .

中国专利 :CN115602661A ,2023-01-13

[6]

发光元件检测装置 [P].

蒋少邯 ;

高子翔 ;

曾宗伟 ;

彭文劭 ;

吴俊亿 ;

陈信翰 ;

吴庭谊 ;

欧晓蓉 ;

陈威甫 ;

林志远 ;

王俐佳 .

中国专利 :CN113758680A ,2021-12-07

[7]

发光元件检测方法及设备 [P].

吴秉颖 ;

刘永钦 ;

黄炫乔 .

中国专利 :CN112993739A ,2021-06-18

[8]

发光元件的缺陷检测方法及系统 [P].

欧震 ;

徐宸科 ;

陈俊昌 ;

苏文正 ;

郭端祥 .

中国专利 :CN102128816A ,2011-07-20

[9]

电致发光元件阵列的巨量检测装置及方法 [P].

江泓毅 ;

陈思安 ;

黄建璋 ;

林冠亨 ;

陈奕宏 .

中国专利 :CN118841430A ,2024-10-25

[10]

金属元件的检测装置及检测方法 [P].

李强 ;

谢向兵 ;

刘发印 .

中国专利 :CN101377551B ,2009-03-04

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