一种微发光元件的巨量检测装置及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510683755.4

申请日：

2025-05-26

公开(公告)号：

CN120527254A

公开(公告)日：

2025-08-22

发明(设计)人：

沈欢刘操

申请人：

视彩（上海）光电技术有限公司

申请人地址：

201204 上海市浦东新区五星路707弄1号401室

IPC主分类号：

H01L21/66

IPC分类号：

H10H29/01

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

温文娟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/66申请日:20250526
2025-08-22	公开	公开

共 50 条

[1]

一种微发光元件的巨量检测装置 [P].

沈欢 ;

刘操 .

中国专利 :CN120527253A ,2025-08-22

[2]

一种微发光元件的巨量检测装置 [P].

沈欢 ;

刘操 .

中国专利 :CN120527251A ,2025-08-22

[3]

电致发光元件阵列的巨量检测装置及方法 [P].

江泓毅 ;

陈思安 ;

黄建璋 ;

林冠亨 ;

陈奕宏 .

中国专利 :CN118841430A ,2024-10-25

[4]

发光元件的检测装置及检测方法 [P].

神保秀 ;

山口宪荣 ;

小屋原桂太 .

中国专利 :CN102980742A ,2013-03-20

[5]

发光元件的检测方法、检测装置及基板 [P].

吴弘智 .

中国专利 :CN112331578A ,2021-02-05

[6]

一种检测装置以及发光元件的检测方法 [P].

翟峰 .

中国专利 :CN115602661B ,2024-05-17

[7]

一种检测装置以及发光元件的检测方法 [P].

翟峰 .

中国专利 :CN115602661A ,2023-01-13

[8]

发光元件及检测装置 [P].

李宝雨 .

中国专利 :CN111785764B ,2020-10-16

[9]

一种微元件的检测装置及其检测方法 [P].

盛翠翠 .

中国专利 :CN117761498A ,2024-03-26

[10]

一种发光元件的检测装置 [P].

沈欢 ;

鲜启云 .

中国专利 :CN120071779A ,2025-05-30

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