用于测量试样的偏振光学性质的光学测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510134746.6

申请日：

2015-03-26

公开(公告)号：

CN104949921A

公开(公告)日：

2015-09-30

发明(设计)人：

M.奥斯特迈耶尔

申请人：

申请人地址：

奥地利格拉茨市安东帕街

IPC主分类号：

G01N2121

IPC分类号：

代理机构：

北京高文律师事务所 11359

代理人：

程义贵;刘增光

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-02-22	授权	授权
2016-09-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101679492916 IPC(主分类):G01N 21/21 专利申请号:2015101347466 申请日:20150326
2015-09-30	公开	公开

共 50 条

[1]

偏振光学显微测量系统 [P].

张兴旺 ;

夏梦 ;

陈玉华 .

中国专利 :CN222232330U ,2024-12-24

[2]

宽带偏振光谱仪及光学测量系统 [P].

李国光 ;

吴文镜 ;

刘涛 ;

赵江艳 ;

郭青杨 ;

马铁中 ;

夏洋 .

中国专利 :CN103162831B ,2013-06-19

[3]

宽带偏振光谱仪和光学测量系统 [P].

李国光 ;

刘涛 ;

赵江艳 ;

吴文镜 ;

王林梓 ;

马铁中 ;

夏洋 .

中国专利 :CN103185638A ,2013-07-03

[4]

用于光学测量系统的测量装置 [P].

T.赫尔德 ;

D.考夫曼 .

中国专利 :CN107883882B ,2018-04-06

[5]

用于校准光学测量系统的方法和光学测量系统 [P].

M·J·詹森 ;

刘平 .

中国专利 :CN115485524A ,2022-12-16

[6]

用于光学测量的测量系统 [P].

L·托贝沙特 ;

C·格鲁伯 ;

T·维斯培特纳 .

德国专利 :CN113574345B ,2024-07-05

[7]

用于光学测量的测量系统 [P].

L·托贝沙特 ;

C·格鲁伯 ;

T·维斯培特纳 .

中国专利 :CN113574345A ,2021-10-29

[8]

垂直入射宽带偏振光谱仪和光学测量系统 [P].

李国光 ;

刘涛 ;

艾迪格·基尼欧 ;

马铁中 ;

严晓浪 .

中国专利 :CN102269623A ,2011-12-07

[9]

斜入射宽带偏振光谱仪和光学测量系统 [P].

李国光 ;

刘涛 ;

艾迪格·基尼欧 ;

马铁中 ;

严晓浪 .

中国专利 :CN102297721A ,2011-12-28

[10]

一种单颗粒物偏振光学性质和光学粒径谱测量系统 [P].

潘小乐 ;

田雨 ;

王自发 .

中国专利 :CN110849817A ,2020-02-28

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