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用于光学测量的测量系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202080018998.1
申请日：
2020-01-31
公开(公告)号：
CN113574345A
公开(公告)日：
2021-10-29
发明(设计)人：
L·托贝沙特 C·格鲁伯 T·维斯培特纳
申请人：
申请人地址：
德国兰格布鲁克
IPC主分类号：
G01B1125
IPC分类号：
G01B2104
代理机构：
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人：
亓云;顾嘉运
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-10-29 公开 公开
2021-11-26 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20200131
共 50 条
[1]
用于光学测量的测量系统 [P]. 
L·托贝沙特 ;
C·格鲁伯 ;
T·维斯培特纳 .
德国专利 :CN113574345B ,2024-07-05
[2]
用于光学测量系统的测量装置 [P]. 
T.赫尔德 ;
D.考夫曼 .
中国专利 :CN107883882B ,2018-04-06
[3]
用于校准光学测量系统的方法和光学测量系统 [P]. 
M·J·詹森 ;
刘平 .
中国专利 :CN115485524A ,2022-12-16
[4]
用于光学测量系统的元件 [P]. 
伯诺伊特·吉奥吉斯·吉拉德·默切兹 .
法国专利 :CN118661088A ,2024-09-17
[5]
用于光学测量物件的方法和测量系统 [P]. 
A.阿达姆森 ;
F.蒂伊 ;
U.维勒斯 .
中国专利 :CN107427231B ,2017-12-01
[6]
用于测量试样的偏振光学性质的光学测量系统 [P]. 
M.奥斯特迈耶尔 .
中国专利 :CN104949921A ,2015-09-30
[7]
光学测量装置以及光学测量系统 [P]. 
后野和弘 .
中国专利 :CN103857999B ,2014-06-11
[8]
光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P]. 
徐添财 .
中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11
[9]
光学测量系统、光学测量方法及光学测量标尺 [P]. 
王勇 .
中国专利 :CN104254755B ,2014-12-31
[10]
光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P]. 
张健 ;
臧笑妍 ;
孙建超 ;
庄源 .
中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08
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