一种XL系列升压芯片检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820122864.4

申请日：

2018-01-25

公开(公告)号：

CN207965056U

公开(公告)日：

2018-10-12

发明(设计)人：

张国银李恒谭洁赵磊陈宝明母德浪

申请人：

申请人地址：

650093 云南省昆明市五华区学府路253号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-10-12	授权	授权
2020-01-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20180125 授权公告日:20181012 终止日期:20190125

共 50 条

[1]

一种XL系列升压芯片检测装置及方法 [P].

谭洁 ;

张国银 ;

李恒 ;

赵磊 ;

陈宝明 ;

母德浪 .

中国专利 :CN108196184A ,2018-06-22

[2]

一种芯片检测装置 [P].

宋成龙 .

中国专利 :CN218271931U ,2023-01-10

[3]

一种芯片检测装置 [P].

郑澎 ;

罗旺宝 ;

郑曙涛 ;

莫树任 .

中国专利 :CN212275892U ,2021-01-01

[4]

一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组 [P].

吴玖术 .

中国专利 :CN216449452U ,2022-05-06

[5]

一种电子芯片检测装置 [P].

司桂芝 .

中国专利 :CN217360197U ,2022-09-02

[6]

一种电子芯片检测装置 [P].

曹满囤 .

中国专利 :CN210534274U ,2020-05-15

[7]

一种芯片IO检测装置 [P].

王飞 .

中国专利 :CN214750413U ,2021-11-16

[8]

一种芯片性能检测装置 [P].

石鹏 .

中国专利 :CN222050385U ,2024-11-22

[9]

一种芯片缺陷检测装置 [P].

陈帅 .

中国专利 :CN221377913U ,2024-07-19

[10]

一种便于芯片定位的芯片检测装置 [P].

杨恒 .

中国专利 :CN218470918U ,2023-02-10

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