一种XL系列升压芯片检测装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810070928.5

申请日：

2018-01-25

公开(公告)号：

CN108196184A

公开(公告)日：

2018-06-22

发明(设计)人：

谭洁张国银李恒赵磊陈宝明母德浪

申请人：

申请人地址：

650093 云南省昆明市五华区学府路253号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-22	公开	公开
2018-07-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20180125

共 50 条

[1]

一种XL系列升压芯片检测装置 [P].

张国银 ;

李恒 ;

谭洁 ;

赵磊 ;

陈宝明 ;

母德浪 .

中国专利 :CN207965056U ,2018-10-12

[2]

一种芯片异常检测装置及检测方法 [P].

尚跃 ;

陶灿 ;

陶子木 .

中国专利 :CN118136539A ,2024-06-04

[3]

一种芯片异常检测装置及检测方法 [P].

尚跃 ;

陶灿 ;

陶子木 .

中国专利 :CN118136539B ,2024-07-12

[4]

一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组 [P].

吴玖术 .

中国专利 :CN216449452U ,2022-05-06

[5]

一种芯片检测系统及检测方法 [P].

陈日辉 ;

黄伊玲 ;

蔡容结 ;

朱国龙 ;

张德娜 .

中国专利 :CN121178466A ,2025-12-23

[6]

一种芯片检测置物盒及芯片检测装置 [P].

杨荣德 .

中国专利 :CN119125006A ,2024-12-13

[7]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311A ,2024-06-25

[8]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311B ,2024-08-20

[9]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN117632606A ,2024-03-01

[10]

芯片引脚检测装置及方法 [P].

邱伟强 ;

杨冬冬 ;

谭必松 ;

毛剑宏 .

中国专利 :CN118655445A ,2024-09-17

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