石英晶片外观缺陷检测装置

被引：0

申请号：

CN202220912789.8

申请日：

2022-04-20

公开(公告)号：

CN217278083U

公开(公告)日：

2022-08-23

发明(设计)人：

陈康徐兴华伊利平鲍旭伟

申请人：

申请人地址：

321000 浙江省金华市婺城区仙华南街777号

IPC主分类号：

G01N2904

IPC分类号：

代理机构：

金华市悦诚君创知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33412

代理人：

刘清凤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-23	授权	授权

共 50 条

[1]

石英晶片外观分选装置 [P].

吴伟业 ;

张铁 ;

应灿 .

中国专利 :CN202506609U ,2012-10-31

[2]

外观缺陷检测装置 [P].

陈翠红 ;

潘正颐 ;

侯大为 .

中国专利 :CN222625422U ,2025-03-18

[3]

石英晶片尺寸与缺陷视觉检测装置 [P].

唐劲 ;

张帮岭 .

中国专利 :CN103090795A ,2013-05-08

[4]

一种晶圆外观缺陷检测装置 [P].

吴子若 .

中国专利 :CN222762125U ,2025-04-15

[5]

线缆外观缺陷检测装置 [P].

李世昌 ;

赵辰 ;

王海峰 ;

胡春桃 .

中国专利 :CN206891999U ,2018-01-16

[6]

外观缺陷检测装置 [P].

魏亚军 ;

陈力 .

中国专利 :CN306229494S ,2020-12-15

[7]

一种产品外观缺陷检测装置 [P].

王康 .

中国专利 :CN214584979U ,2021-11-02

[8]

磁瓦外观缺陷检测装置 [P].

岳来鹏 ;

刘鑫 .

中国专利 :CN213223295U ,2021-05-18

[9]

烟支外观缺陷检测装置 [P].

郭华诚 ;

郜海民 ;

王晓燕 ;

李阳光 ;

吴艳艳 ;

鲍旭东 ;

鲍文华 ;

张健 ;

张月华 ;

李明伟 ;

杨耀伟 ;

王雷 ;

张文海 ;

侯志龙 ;

张志刚 ;

刘宝甫 ;

宋六明 ;

寇智龄 .

中国专利 :CN211086138U ,2020-07-24

[10]

烟支外观缺陷检测装置 [P].

潘向明 ;

余翔 ;

马栋 .

中国专利 :CN221729722U ,2024-09-20

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