一种晶圆外观缺陷检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421099544.3

申请日：

2024-05-20

公开(公告)号：

CN222762125U

公开(公告)日：

2025-04-15

发明(设计)人：

吴子若

申请人：

上海鉴影光学科技有限公司

申请人地址：

201108 上海市闵行区华宁路3333号18幢2楼北A区B1室

IPC主分类号：

G01N29/04

IPC分类号：

G01N29/22 G01N29/24 G01N29/265 B65G47/91 B65G29/00

代理机构：

上海湾谷知识产权代理事务所(普通合伙) 31289

代理人：

倪继祖

法律状态：

授权

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-15	授权	授权

共 50 条

[1]

一种晶圆外观检测装置 [P].

李林稳 ;

林昌达 ;

郭海兵 ;

曾志东 ;

叶胜浓 .

中国专利 :CN218445079U ,2023-02-03

[2]

一种具有自动上料功能的晶圆外观缺陷检测装置 [P].

方廷宇 ;

许忠信 ;

李庆申 ;

杨士林 ;

张辉 .

中国专利 :CN222965141U ,2025-06-10

[3]

一种电池包外观缺陷检测装置 [P].

曹琳 ;

徐智忠 ;

李旭阳 .

中国专利 :CN220552785U ,2024-03-01

[4]

石英晶片外观缺陷检测装置 [P].

陈康 ;

徐兴华 ;

伊利平 ;

鲍旭伟 .

中国专利 :CN217278083U ,2022-08-23

[5]

一种晶圆竖直缺陷检测装置 [P].

史庆飞 ;

许志彬 ;

兰海燕 ;

李士昌 .

中国专利 :CN223319791U ,2025-09-09

[6]

一种磁铁外观缺陷检测装置 [P].

陈孔锋 .

中国专利 :CN207379943U ,2018-05-18

[7]

一种无纺布外观缺陷检测装置 [P].

王建强 ;

贺贞贞 ;

商明锜 .

中国专利 :CN221377749U ,2024-07-19

[8]

一种工件外观缺陷检测装置 [P].

何金洲 ;

周寿林 .

中国专利 :CN202182866U ,2012-04-04

[9]

一种手机外观缺陷检测装置 [P].

游俊辉 .

中国专利 :CN216490659U ,2022-05-10

[10]

一种PCB外观缺陷检测装置 [P].

杨军 ;

马小寒 ;

杨云 ;

丁睿 ;

刘刚 .

中国专利 :CN223332908U ,2025-09-12

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