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一种具有自动上料功能的晶圆外观缺陷检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202421129891.6
申请日
:
2024-05-23
公开(公告)号
:
CN222965141U
公开(公告)日
:
2025-06-10
发明(设计)人
:
方廷宇
许忠信
李庆申
杨士林
张辉
申请人
:
山东强茂电子科技有限公司
申请人地址
:
255000 山东省淄博市高新区中润大道186号
IPC主分类号
:
G01N21/95
IPC分类号
:
G01N21/01
代理机构
:
济南泉城专利商标事务所 37218
代理人
:
耿媛媛
法律状态
:
授权
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-06-10
授权
授权
共 50 条
[1]
一种晶圆外观缺陷检测装置
[P].
吴子若
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
上海鉴影光学科技有限公司
上海鉴影光学科技有限公司
吴子若
.
中国专利
:CN222762125U
,2025-04-15
[2]
一种晶圆外观检测装置
[P].
李林稳
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李林稳
;
林昌达
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林昌达
;
郭海兵
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郭海兵
;
曾志东
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曾志东
;
叶胜浓
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叶胜浓
.
中国专利
:CN218445079U
,2023-02-03
[3]
一种晶圆竖直缺陷检测装置
[P].
史庆飞
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机构:
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
史庆飞
;
许志彬
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机构:
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
许志彬
;
兰海燕
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机构:
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
兰海燕
;
李士昌
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机构:
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
李士昌
.
中国专利
:CN223319791U
,2025-09-09
[4]
一种晶圆检测自动上料装置
[P].
丁桃宝
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机构:
江苏晋誉达半导体股份有限公司
江苏晋誉达半导体股份有限公司
丁桃宝
;
陈沁楠
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机构:
江苏晋誉达半导体股份有限公司
江苏晋誉达半导体股份有限公司
陈沁楠
;
陈愿
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机构:
江苏晋誉达半导体股份有限公司
江苏晋誉达半导体股份有限公司
陈愿
;
汤荷铭
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机构:
江苏晋誉达半导体股份有限公司
江苏晋誉达半导体股份有限公司
汤荷铭
.
中国专利
:CN121075980A
,2025-12-05
[5]
一种具有自动上料功能的检测装置
[P].
程鹏
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机构:
大同市综合检验检测中心
大同市综合检验检测中心
程鹏
.
中国专利
:CN220751802U
,2024-04-09
[6]
一种晶圆检测的自动对位装置
[P].
胡科
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机构:
深圳市德斯戈智能科技有限公司
深圳市德斯戈智能科技有限公司
胡科
.
中国专利
:CN220455183U
,2024-02-06
[7]
一种晶圆外观检测模组及晶圆外观检测设备
[P].
肖治祥
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肖治祥
;
许锐
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许锐
;
朱涛
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朱涛
;
饶兴
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饶兴
.
中国专利
:CN215727778U
,2022-02-01
[8]
一种自动调节光源的模组外观缺陷检测装置
[P].
刘俊涛
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刘俊涛
;
王治玺
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王治玺
.
中国专利
:CN218298059U
,2023-01-13
[9]
一种晶圆竖直缺陷检测装置
[P].
史庆飞
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机构:
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
史庆飞
;
许志彬
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机构:
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
许志彬
;
兰海燕
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机构:
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
兰海燕
;
李士昌
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机构:
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
盛吉盛精密装备(上海)有限公司
李士昌
.
中国专利
:CN119164352A
,2024-12-20
[10]
一种晶圆自动装载检测装置
[P].
陈垒
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机构:
上海大族富创得科技股份有限公司
上海大族富创得科技股份有限公司
陈垒
;
吴沃祖
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机构:
上海大族富创得科技股份有限公司
上海大族富创得科技股份有限公司
吴沃祖
;
何升学
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机构:
上海大族富创得科技股份有限公司
上海大族富创得科技股份有限公司
何升学
;
孔祥海
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机构:
上海大族富创得科技股份有限公司
上海大族富创得科技股份有限公司
孔祥海
.
中国专利
:CN222355085U
,2025-01-14
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