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GaSb焦平面红外探测器的制备方法及GaSb焦平面红外探测器
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110190660.0
申请日
:
2021-02-19
公开(公告)号
:
CN113013289A
公开(公告)日
:
2021-06-22
发明(设计)人
:
郝宏玥
徐应强
牛智川
王国伟
蒋洞微
申请人
:
申请人地址
:
100083 北京市海淀区清华东路甲35号
IPC主分类号
:
H01L3118
IPC分类号
:
H01L310304
H01L31102
H01L27144
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
刘歌
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-06-22
公开
公开
2021-07-09
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/18 申请日:20210219
共 50 条
[1]
焦平面红外探测器芯片、探测器和制备方法
[P].
郝宏玥
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郝宏玥
;
徐应强
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徐应强
;
牛智川
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牛智川
;
王国伟
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0
王国伟
;
蒋洞微
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0
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蒋洞微
.
中国专利
:CN113130676A
,2021-07-16
[2]
台面型焦平面红外探测器及其制备方法
[P].
孔文超
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机构:
武汉高芯科技有限公司
武汉高芯科技有限公司
孔文超
;
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机构:
黄晟
;
黄立
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机构:
武汉高芯科技有限公司
武汉高芯科技有限公司
黄立
;
甘志伟
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机构:
武汉高芯科技有限公司
武汉高芯科技有限公司
甘志伟
.
中国专利
:CN120224838A
,2025-06-27
[3]
一种焦平面红外探测器结构
[P].
陈钢
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陈钢
;
曾广锋
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曾广锋
;
高涛
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高涛
.
中国专利
:CN215865505U
,2022-02-18
[4]
焦平面芯片及其制备方法、制冷光子型焦平面红外探测器
[P].
黄立
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机构:
武汉高芯科技有限公司
武汉高芯科技有限公司
黄立
;
严冰
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机构:
武汉高芯科技有限公司
武汉高芯科技有限公司
严冰
;
张冰洁
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机构:
武汉高芯科技有限公司
武汉高芯科技有限公司
张冰洁
.
中国专利
:CN114639693B
,2025-06-10
[5]
焦平面芯片及其制备方法、制冷光子型焦平面红外探测器
[P].
黄立
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黄立
;
严冰
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严冰
;
张冰洁
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张冰洁
.
中国专利
:CN114639693A
,2022-06-17
[6]
红外焦平面探测器
[P].
孟庆端
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孟庆端
;
张晓玲
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张晓玲
;
赵旭辉
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赵旭辉
;
宋璐
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宋璐
;
李娜
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李娜
;
司乐飞
论文数:
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司乐飞
.
中国专利
:CN105244355B
,2016-01-13
[7]
一种制冷型焦平面红外探测器件
[P].
谭启广
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机构:
中国电子科技集团公司第十一研究所
中国电子科技集团公司第十一研究所
谭启广
;
李忠贺
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机构:
中国电子科技集团公司第十一研究所
中国电子科技集团公司第十一研究所
李忠贺
;
张轶
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机构:
中国电子科技集团公司第十一研究所
中国电子科技集团公司第十一研究所
张轶
;
吴卿
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0
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机构:
中国电子科技集团公司第十一研究所
中国电子科技集团公司第十一研究所
吴卿
;
赵建忠
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0
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机构:
中国电子科技集团公司第十一研究所
中国电子科技集团公司第十一研究所
赵建忠
.
中国专利
:CN118111565A
,2024-05-31
[8]
一种InGaAs焦平面红外探测器的制备方法
[P].
弭伟
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0
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弭伟
;
杨志茂
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杨志茂
;
王斌
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王斌
;
陈新荣
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0
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陈新荣
.
中国专利
:CN115411142A
,2022-11-29
[9]
一种InGaAs焦平面红外探测器的制备方法
[P].
弭伟
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机构:
北京英孚瑞半导体科技有限公司
北京英孚瑞半导体科技有限公司
弭伟
;
杨志茂
论文数:
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机构:
北京英孚瑞半导体科技有限公司
北京英孚瑞半导体科技有限公司
杨志茂
;
王斌
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机构:
北京英孚瑞半导体科技有限公司
北京英孚瑞半导体科技有限公司
王斌
;
陈新荣
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机构:
北京英孚瑞半导体科技有限公司
北京英孚瑞半导体科技有限公司
陈新荣
.
中国专利
:CN115411142B
,2025-02-18
[10]
红外焦平面探测器
[P].
姜磊
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姜磊
;
曾华雄
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曾华雄
;
诸银娟
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诸银娟
.
中国专利
:CN307406939S
,2022-06-17
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