基于量子弱测量的OAM光束重心位移测量装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910409422.7
申请日
2019-05-15
公开(公告)号
CN110231088B
公开(公告)日
2019-09-13
发明(设计)人
朱文国 余健辉 陈哲 龙文进 郑华丹 唐洁媛
申请人
申请人地址
510632 广东省广州市天河区黄埔大道西601号
IPC主分类号
G01J142
IPC分类号
G01J104
代理机构
广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙) 44446
代理人
林伟斌;凌衍芬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
基于量子弱测量的复磁光角测量系统及方法 [P]. 
张志友 ;
何宇 .
中国专利 :CN113567351B ,2021-10-29
[2]
位移测量装置、测量系统及位移测量方法 [P]. 
近藤智则 ;
铃木祐太 ;
的场贤一 ;
金谷义宏 .
中国专利 :CN109557545A ,2019-04-02
[3]
基于光场栅的位移测量装置 [P]. 
程方 ;
叶瑞芳 ;
苏杭 ;
崔长彩 ;
余卿 ;
王寅 .
中国专利 :CN210719020U ,2020-06-09
[4]
基于量子弱测量的有序度测量系统及方法 [P]. 
王常有 ;
李彤 ;
张志友 ;
张嗣杰 .
中国专利 :CN119023575A ,2024-11-26
[5]
位移测量装置、位移测量系统和位移测量方法 [P]. 
曾有军 ;
杨峰 ;
聂义 ;
安文慧 .
中国专利 :CN119197278A ,2024-12-27
[6]
位移测量装置及采用该位移测量装置的位移测量方法 [P]. 
汪晓兵 ;
周松萍 ;
周沙 ;
刘伟 .
中国专利 :CN105547123A ,2016-05-04
[7]
位移测量装置及位移测量方法 [P]. 
马海祥 ;
李小龙 ;
冯甫 ;
袁小聪 .
中国专利 :CN119618083A ,2025-03-14
[8]
位移测量装置及位移测量方法 [P]. 
马海祥 ;
李小龙 ;
冯甫 ;
袁小聪 .
中国专利 :CN119618083B ,2025-04-04
[9]
一种基于量子弱测量的位移台精密测量方法及装置 [P]. 
李文奎 ;
邹志新 ;
李晓春 .
中国专利 :CN118129649A ,2024-06-04
[10]
基于量子弱测量的波前复原方法 [P]. 
张志友 ;
卢永航 ;
高福华 .
中国专利 :CN117870878A ,2024-04-12