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一种空间漫反射荧光光谱分析仪
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202020632073.3
申请日
:
2020-04-24
公开(公告)号
:
CN212275587U
公开(公告)日
:
2021-01-01
发明(设计)人
:
吴健彬
陶郁峰
谈铭
申请人
:
申请人地址
:
214126 江苏省无锡市惠山区经济开发区荷塘路2号荷塘苑4号楼
IPC主分类号
:
G01N2164
IPC分类号
:
G01N2147
G01N2101
代理机构
:
无锡中瑞知识产权代理有限公司 32259
代理人
:
刘亚波
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-01-01
授权
授权
共 50 条
[1]
XRF荧光光谱分析仪
[P].
张波
论文数:
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0
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机构:
苏州英飞思科学仪器有限公司
苏州英飞思科学仪器有限公司
张波
.
中国专利
:CN308738967S
,2024-07-19
[2]
X荧光光谱分析仪
[P].
高华
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高华
;
余正东
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余正东
.
中国专利
:CN205384236U
,2016-07-13
[3]
一种X荧光光谱分析仪
[P].
张航飞
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张航飞
;
石如莹
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石如莹
;
马建州
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马建州
.
中国专利
:CN210863602U
,2020-06-26
[4]
一种X荧光光谱分析仪
[P].
梁国炜
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梁国炜
.
中国专利
:CN206411038U
,2017-08-15
[5]
一种检测皮革材料元素荧光光谱分析仪
[P].
蒋小良
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蒋小良
;
曾铭
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曾铭
;
陈梅
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陈梅
;
王斌
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王斌
;
徐正华
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徐正华
.
中国专利
:CN204346956U
,2015-05-20
[6]
X射线荧光光谱分析仪
[P].
李福生
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李福生
;
徐磊
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徐磊
.
中国专利
:CN307087788S
,2022-01-28
[7]
一种X射线荧光光谱分析仪
[P].
梁志宏
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梁志宏
.
中国专利
:CN201773073U
,2011-03-23
[8]
一种X射线荧光光谱分析仪
[P].
杜亚明
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杜亚明
.
中国专利
:CN107228875A
,2017-10-03
[9]
一种X荧光光谱分析仪
[P].
赵敏
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赵敏
;
杨绍雨
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杨绍雨
.
中国专利
:CN202854069U
,2013-04-03
[10]
一种X射线荧光光谱分析仪保护系统
[P].
陈娅
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机构:
福建青拓特钢技术研究有限公司
福建青拓特钢技术研究有限公司
陈娅
;
谭晓琦
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机构:
福建青拓特钢技术研究有限公司
福建青拓特钢技术研究有限公司
谭晓琦
;
李彦文
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机构:
福建青拓特钢技术研究有限公司
福建青拓特钢技术研究有限公司
李彦文
;
宁芳方
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机构:
福建青拓特钢技术研究有限公司
福建青拓特钢技术研究有限公司
宁芳方
.
中国专利
:CN220820515U
,2024-04-19
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