一种空间漫反射荧光光谱分析仪

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202020632073.3
申请日
2020-04-24
公开(公告)号
CN212275587U
公开(公告)日
2021-01-01
发明(设计)人
吴健彬 陶郁峰 谈铭
申请人
申请人地址
214126 江苏省无锡市惠山区经济开发区荷塘路2号荷塘苑4号楼
IPC主分类号
G01N2164
IPC分类号
G01N2147 G01N2101
代理机构
无锡中瑞知识产权代理有限公司 32259
代理人
刘亚波
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
XRF荧光光谱分析仪 [P]. 
张波 .
中国专利 :CN308738967S ,2024-07-19
[2]
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[3]
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石如莹 ;
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[4]
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[7]
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[9]
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