用于测量待测电阻的测量系统

被引：0

申请号：

CN202110616406.2

申请日：

2021-06-02

公开(公告)号：

CN115436708A

公开(公告)日：

2022-12-06

发明(设计)人：

陈大伟王追陈志

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市新安街道留芳路6号庭威产业园3#4楼A区

IPC主分类号：

G01R2708

IPC分类号：

G01R1925

代理机构：

深圳舍穆专利代理事务所(特殊普通合伙) 44398

代理人：

邱爽

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-13	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 27/08 变更事项:申请人变更前:深圳硅基仿生科技有限公司变更后:深圳硅基仿生科技股份有限公司变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市新安街道留芳路6号庭威产业园3#4楼A区变更后:518000 广东省深圳市新安街道留芳路6号庭威产业园3#4楼A区
2022-12-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/08 申请日:20210602
2022-12-06	公开	公开

共 50 条

[1]

用于测量待测电阻的测量系统 [P].

陈大伟 ;

王追 ;

陈志 .

中国专利 :CN115436708B ,2025-07-29

[2]

用于测量待测电阻的阻值的测量系统 [P].

陈志 ;

王追 .

中国专利 :CN121069025A ,2025-12-05

[3]

用于获取待测电阻的阻值的处理模块及相关测量系统 [P].

陈志 ;

王追 .

中国专利 :CN121069024A ,2025-12-05

[4]

待测物体的测量系统 [P].

宋林东 ;

王倩 .

中国专利 :CN117704957A ,2024-03-15

[5]

用于测量待测物的光学测量系统及方法 [P].

庄东益 ;

卓柏扬 ;

许皓威 .

中国专利 :CN120668685A ,2025-09-19

[6]

用于测量电阻的电路和方法 [P].

杨鑫 .

中国专利 :CN109358236B ,2019-02-19

[7]

用于标准电阻测量的恒温设备和标准电阻测量系统 [P].

陈韶淼 ;

叶新新 ;

曾泓博 .

中国专利 :CN214409057U ,2021-10-15

[8]

探针组件及用于测量电阻的测量系统 [P].

李栋 ;

王钰雅 .

中国专利 :CN208752114U ,2019-04-16

[9]

不对中导线测量待测点坐标的测量系统及测量方法 [P].

张昆明 ;

宋建功 ;

李志涛 ;

马宏伟 ;

梁超 .

中国专利 :CN106092068B ,2016-11-09

[10]

用于测量电阻的电路 [P].

段更勋 ;

杨野 ;

刘远洋 ;

钱进 .

中国专利 :CN222545407U ,2025-02-28

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