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用于测量待测电阻的阻值的测量系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511219566.8
申请日：
2021-06-02
公开(公告)号：
CN121069025A
公开(公告)日：
2025-12-05
发明(设计)人：
陈志 王追
申请人：
深圳硅基仿生科技股份有限公司
申请人地址：
518110 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜社区观光路1301-84号银星智界三期2号楼501
IPC主分类号：
G01R27/08
IPC分类号：
G01R19/25
代理机构：
深圳舍穆专利代理事务所(特殊普通合伙) 44398
代理人：
郑菊凤
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-12-05 公开 公开
2025-12-23 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 27/08申请日:20210602
共 50 条
[1]
用于获取待测电阻的阻值的处理模块及相关测量系统 [P]. 
陈志 ;
王追 .
中国专利 :CN121069024A ,2025-12-05
[2]
用于测量待测电阻的测量系统 [P]. 
陈大伟 ;
王追 ;
陈志 .
中国专利 :CN115436708B ,2025-07-29
[3]
用于测量待测电阻的测量系统 [P]. 
陈大伟 ;
王追 ;
陈志 .
中国专利 :CN115436708A ,2022-12-06
[4]
待测物体的测量系统 [P]. 
宋林东 ;
王倩 .
中国专利 :CN117704957A ,2024-03-15
[5]
用于测量待测物的光学测量系统及方法 [P]. 
庄东益 ;
卓柏扬 ;
许皓威 .
中国专利 :CN120668685A ,2025-09-19
[6]
可测量多点电阻值的测量系统及其方法 [P]. 
郑兆希 ;
胡维彦 ;
张新民 ;
李亮宏 .
中国专利 :CN101750542A ,2010-06-23
[7]
用于标准电阻测量的恒温设备和标准电阻测量系统 [P]. 
陈韶淼 ;
叶新新 ;
曾泓博 .
中国专利 :CN214409057U ,2021-10-15
[8]
高阻值电阻测量装置 [P]. 
杨正伟 ;
罗雷 ;
田干 ;
陶胜杰 ;
张炜 ;
朱杰堂 .
中国专利 :CN204228826U ,2015-03-25
[9]
一种低成本的高阻值电阻的测量系统及测量方法 [P]. 
杨宏银 ;
黄宇 .
中国专利 :CN114518489A ,2022-05-20
[10]
探针组件及用于测量电阻的测量系统 [P]. 
李栋 ;
王钰雅 .
中国专利 :CN208752114U ,2019-04-16
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