低功耗验证方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110875334.3
申请日
2021-07-30
公开(公告)号
CN113723033A
公开(公告)日
2021-11-30
发明(设计)人
索健
申请人
申请人地址
100190 北京市海淀区中关村大街1号16层1605
IPC主分类号
G06F30327
IPC分类号
G06F3033
代理机构
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人
张梦瑶
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
低功耗验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
索健 .
中国专利 :CN113723033B ,2025-03-04
[2]
降低功耗的方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
黄树伟 .
中国专利 :CN110636595B ,2019-12-31
[3]
前端低功耗验证环境生成方法、电子设备和介质 [P]. 
桂宇宁 .
中国专利 :CN120562352B ,2025-10-24
[4]
前端低功耗验证环境生成方法、电子设备和介质 [P]. 
桂宇宁 .
中国专利 :CN120562352A ,2025-08-29
[5]
验证方法、验证装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王禄娜 ;
赵荣 ;
吴坚强 .
中国专利 :CN118062040A ,2024-05-24
[6]
芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120893362A ,2025-11-04
[7]
低功耗双固件芯片系统及其启动控制方法、电子设备及存储介质 [P]. 
还玮 ;
陈朋芳 ;
王启强 ;
汪民乐 .
中国专利 :CN120335881A ,2025-07-18
[8]
进行低功耗设计的方法、电子设备及存储介质 [P]. 
陈亚平 ;
唐炳洋 .
中国专利 :CN114548028B ,2024-02-20
[9]
低功耗方案的验证方法、装置、系统、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN121116504A ,2025-12-12
[10]
进行低功耗设计的方法、电子设备及存储介质 [P]. 
陈亚平 ;
唐炳洋 .
中国专利 :CN114548028A ,2022-05-27