前端低功耗验证环境生成方法、电子设备和介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511073438.7

申请日：

2025-08-01

公开(公告)号：

CN120562352B

公开(公告)日：

2025-10-24

发明(设计)人：

桂宇宁

申请人：

沐曦集成电路（上海）股份有限公司

申请人地址：

201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19号楼3层

IPC主分类号：

G06F30/33

IPC分类号：

代理机构：

北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579

代理人：

丁慧玲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-24	授权	授权
2025-08-29	公开	公开
2025-09-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/33申请日:20250801

共 50 条

[1]

前端低功耗验证环境生成方法、电子设备和介质 [P].

桂宇宁 .

中国专利 :CN120562352A ,2025-08-29

[2]

低功耗验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

索健 .

中国专利 :CN113723033B ,2025-03-04

[3]

低功耗验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

索健 .

中国专利 :CN113723033A ,2021-11-30

[4]

芯片验证环境的生成方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

赵雅 ;

张攀勇 ;

黄泽波 ;

方文明 ;

张帅 .

中国专利 :CN120874696A ,2025-10-31

[5]

时钟验证环境的生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

薛静松 ;

胡旭 .

中国专利 :CN114818597A ,2022-07-29

[6]

前端页面代码生成方法、装置、电子设备和介质 [P].

张逸伦 .

中国专利 :CN120371303A ,2025-07-25

[7]

前端页面代码生成方法、装置、电子设备和介质 [P].

张逸伦 .

中国专利 :CN120371303B ,2025-09-16

[8]

前端代码生成方法、装置和电子设备 [P].

孙彬彬 ;

魏建国 ;

徐乾坤 ;

丁涛涛 ;

陶孟伟 .

中国专利 :CN117453194A ,2024-01-26

[9]

验证代理生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118779175A ,2024-10-15

[10]

低功耗芯片和电子设备 [P].

王霆 ;

陈诗卓 ;

章伟 ;

石刚 .

中国专利 :CN117171082B ,2024-01-26

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