芯片验证环境的生成方法、系统、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510787505.5

申请日：

2025-06-12

公开(公告)号：

CN120874696A

公开(公告)日：

2025-10-31

发明(设计)人：

赵雅张攀勇黄泽波方文明张帅

申请人：

海光信息技术股份有限公司

申请人地址：

300000 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8

IPC主分类号：

G06F30/327

IPC分类号：

G06F30/3312

代理机构：

北京市广友专利事务所有限责任公司 11237

代理人：

张仲波

法律状态：

公开

国省代码：

天津市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-31	公开	公开
2025-11-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/327申请日:20250612

共 50 条

[1]

芯片验证方法、芯片验证系统、电子设备及存储介质 [P].

杜玉欣 ;

金鹏 ;

李壮壮 ;

王家耀 ;

宋骁雄 ;

王黎元 ;

张敏 ;

李男 ;

王大鹏 ;

胡臻平 ;

刘婧迪 .

中国专利 :CN118839661A ,2024-10-25

[2]

前端低功耗验证环境生成方法、电子设备和介质 [P].

桂宇宁 .

中国专利 :CN120562352B ,2025-10-24

[3]

前端低功耗验证环境生成方法、电子设备和介质 [P].

桂宇宁 .

中国专利 :CN120562352A ,2025-08-29

[4]

验证标识生成方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

贺鑫 ;

杨超宇 ;

李佩伦 ;

周细祥 .

中国专利 :CN116112178B ,2025-07-25

[5]

图像生成方法、电子设备、芯片系统及存储介质 [P].

邓兆利 ;

刘雯 ;

张峻康 ;

张文冬 ;

唐子奇 .

中国专利 :CN120876631A ,2025-10-31

[6]

芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120893362A ,2025-11-04

[7]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

崔昭华 .

中国专利 :CN114528792A ,2022-05-24

[8]

验证数据集的生成方法、芯片、电子设备和存储介质 [P].

李磊 ;

郑伟 ;

梁喆 ;

马振强 ;

王煜华 ;

刘磊 ;

赵立敏 .

中国专利 :CN117914325A ,2024-04-19

[9]

时钟验证环境的生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

薛静松 ;

胡旭 .

中国专利 :CN114818597A ,2022-07-29

[10]

芯片功能的验证方法、验证平台、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117494638A ,2024-02-02

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