一种光学薄膜在线检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202120921746.1

申请日：

2021-04-30

公开(公告)号：

CN214844890U

公开(公告)日：

2021-11-23

发明(设计)人：

孙仕兵顾孔胜

申请人：

申请人地址：

516369 广东省惠州市惠东县白花镇太阳坳工业城

IPC主分类号：

G01N2195

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

深圳市徽正知识产权代理有限公司 44405

代理人：

卢杏艳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-23	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学薄膜在线检测瑕疵装置 [P].

周永南 ;

吴佳铭 .

中国专利 :CN218121789U ,2022-12-23

[2]

一种光学薄膜厚度检测装置 [P].

叶航 ;

林欲金 ;

周奕杰 .

中国专利 :CN223663967U ,2025-12-12

[3]

一种光学薄膜在线剥离装置 [P].

武玄庆 ;

李朝发 .

中国专利 :CN218465131U ,2023-02-10

[4]

一种光学薄膜检测装置 [P].

付志峰 .

中国专利 :CN120427650A ,2025-08-05

[5]

一种光学薄膜透光度检测装置 [P].

朴治炫 ;

罗喜柱 ;

郑熙锡 ;

崔允喆 .

中国专利 :CN217901556U ,2022-11-25

[6]

一种光学薄膜用厚度检测装置 [P].

罗娟 .

中国专利 :CN212988313U ,2021-04-16

[7]

一种光学薄膜用厚度检测装置 [P].

王亚博 ;

刘国喜 ;

孙琪 ;

王相义 ;

芦淑华 .

中国专利 :CN218349447U ,2023-01-20

[8]

一种光学薄膜加工用的厚度检测装置 [P].

刘凌松 ;

陈国彦 ;

罗国星 ;

李朋辉 ;

伍梓辉 ;

周培 ;

李松 .

中国专利 :CN211121141U ,2020-07-28

[9]

一种光学薄膜加工用的厚度检测装置 [P].

魏丽秀 .

中国专利 :CN216645296U ,2022-05-31

[10]

光学薄膜 [P].

罗羽柱 .

中国专利 :CN208969383U ,2019-06-11

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