一种光学薄膜检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510935120.9

申请日：

2025-07-08

公开(公告)号：

CN120427650A

公开(公告)日：

2025-08-05

发明(设计)人：

付志峰

申请人：

深圳菲尔泰光电有限公司

申请人地址：

518100 广东省深圳市南山区西丽街道麻磡南路31号5栋3楼及4楼

IPC主分类号：

G01N21/89

IPC分类号：

G01N21/84 B65C9/26 B65C9/18

代理机构：

安徽迪迦知识产权代理事务所(普通合伙) 34333

代理人：

谢军龙

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-05	公开	公开
2025-08-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/89申请日:20250708

共 50 条

[1]

一种光学薄膜厚度检测装置 [P].

叶航 ;

林欲金 ;

周奕杰 .

中国专利 :CN223663967U ,2025-12-12

[2]

一种光学薄膜在线检测装置 [P].

孙仕兵 ;

顾孔胜 .

中国专利 :CN214844890U ,2021-11-23

[3]

一种光学薄膜透光度检测装置 [P].

朴治炫 ;

罗喜柱 ;

郑熙锡 ;

崔允喆 .

中国专利 :CN217901556U ,2022-11-25

[4]

一种光学薄膜用厚度检测装置 [P].

罗娟 .

中国专利 :CN212988313U ,2021-04-16

[5]

一种光学薄膜用厚度检测装置 [P].

王亚博 ;

刘国喜 ;

孙琪 ;

王相义 ;

芦淑华 .

中国专利 :CN218349447U ,2023-01-20

[6]

光学薄膜检测装置及缺陷检测方法 [P].

黄俊杰 ;

陈韦廷 ;

康嘉滨 .

中国专利 :CN105334217A ,2016-02-17

[7]

一种制备光学薄膜模具及光学薄膜 [P].

高育龙 ;

亢红伟 ;

洪莘 ;

杨广舟 .

中国专利 :CN108572406A ,2018-09-25

[8]

光学薄膜的制造方法、光学薄膜及光学薄膜的制造装置 [P].

仲井宏太 ;

田中悟 ;

须藤定治 .

中国专利 :CN103119482A ,2013-05-22

[9]

一种光学薄膜加工用的厚度检测装置 [P].

刘凌松 ;

陈国彦 ;

罗国星 ;

李朋辉 ;

伍梓辉 ;

周培 ;

李松 .

中国专利 :CN211121141U ,2020-07-28

[10]

一种光学薄膜加工用的厚度检测装置 [P].

魏丽秀 .

中国专利 :CN216645296U ,2022-05-31

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