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测量组件及测量系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201922337076.4
申请日
:
2019-12-23
公开(公告)号
:
CN211234207U
公开(公告)日
:
2020-08-11
发明(设计)人
:
王琥珀
曾鸣
陈玉英
刘玉斌
王楚英
张瑞诚
彭丽雯
申请人
:
申请人地址
:
335000 江西省鹰潭市月湖区南站路24号
IPC主分类号
:
G01B502
IPC分类号
:
G01B514
代理机构
:
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
张培柳
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-08-11
授权
授权
共 50 条
[1]
一种辅助测量组件及测量系统
[P].
孙虎
论文数:
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0
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0
机构:
深圳市大富方圆成型技术有限公司
深圳市大富方圆成型技术有限公司
孙虎
.
中国专利
:CN222460490U
,2025-02-11
[2]
测量装置及测量系统
[P].
李林峰
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机构:
武汉海微科技股份有限公司
武汉海微科技股份有限公司
李林峰
;
汪杨刚
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机构:
武汉海微科技股份有限公司
武汉海微科技股份有限公司
汪杨刚
;
胡锐
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机构:
武汉海微科技股份有限公司
武汉海微科技股份有限公司
胡锐
.
中国专利
:CN221350058U
,2024-07-16
[3]
测量组件和测量系统
[P].
王志强
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王志强
.
中国专利
:CN217770365U
,2022-11-08
[4]
一种临界雷诺数测量组件及测量系统
[P].
柳春清
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柳春清
;
卞永宁
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卞永宁
;
张志敏
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张志敏
;
杨春萍
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杨春萍
;
李树敏
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李树敏
;
所吉明
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所吉明
;
杨玉炎
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杨玉炎
;
李明轩
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李明轩
.
中国专利
:CN211205705U
,2020-08-07
[5]
纳米颗粒测量组件及纳米颗粒测量系统
[P].
安基焕
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机构:
东友精细化工有限公司
东友精细化工有限公司
安基焕
;
李民柱
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机构:
东友精细化工有限公司
东友精细化工有限公司
李民柱
;
薛佑焕
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机构:
东友精细化工有限公司
东友精细化工有限公司
薛佑焕
;
白成颢
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东友精细化工有限公司
东友精细化工有限公司
白成颢
;
韩盛弼
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机构:
东友精细化工有限公司
东友精细化工有限公司
韩盛弼
.
韩国专利
:CN120858277A
,2025-10-28
[6]
探针组件及用于测量电阻的测量系统
[P].
李栋
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李栋
;
王钰雅
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王钰雅
.
中国专利
:CN208752114U
,2019-04-16
[7]
厚度测量装置及测量组件
[P].
彭志伟
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彭志伟
.
中国专利
:CN207050626U
,2018-02-27
[8]
辅助测量组件及测量装置
[P].
王家广
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王家广
;
高豪迈
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高豪迈
;
张苗苗
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张苗苗
;
吴志青
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吴志青
.
中国专利
:CN214145988U
,2021-09-07
[9]
测量装置及钢管桩垂直度测量组件
[P].
刘力博
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刘力博
;
李倩龙
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李倩龙
;
陶光铝
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陶光铝
;
覃义
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覃义
;
陈松
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陈松
.
中国专利
:CN211178502U
,2020-08-04
[10]
定位测量工装及定位测量系统
[P].
李小磊
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李小磊
;
槐磊
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槐磊
;
周梦涛
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周梦涛
.
中国专利
:CN211121060U
,2020-07-28
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