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纳米颗粒测量组件及纳米颗粒测量系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202480021030.2
申请日：
2024-03-06
公开(公告)号：
CN120858277A
公开(公告)日：
2025-10-28
发明(设计)人：
安基焕 李民柱 薛佑焕 白成颢 韩盛弼
申请人：
东友精细化工有限公司
申请人地址：
韩国全罗北道
IPC主分类号：
G01N15/1434
IPC分类号：
G01N15/1031 G01N21/71 G01N15/00
代理机构：
北京市中伦律师事务所 11410
代理人：
姜香丹
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-28 公开 公开
2025-11-14 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 15/1434申请日:20240306
共 50 条
[1]
纳米颗粒直径测量装置以及纳米颗粒直径测量方法 [P]. 
杨晖 ;
杨海马 ;
孔平 ;
郑刚 ;
于小强 ;
宋磊磊 .
中国专利 :CN103424080B ,2013-12-04
[2]
纳米颗粒粒径测量系统 [P]. 
黄鹭 ;
高思田 ;
施玉书 ;
李伟 ;
李琪 .
中国专利 :CN110455690B ,2024-06-11
[3]
纳米颗粒粒径测量系统 [P]. 
黄鹭 ;
高思田 ;
施玉书 ;
李伟 ;
李琪 .
中国专利 :CN210571846U ,2020-05-19
[4]
纳米颗粒粒径测量系统 [P]. 
黄鹭 ;
高思田 ;
施玉书 ;
李伟 ;
李琪 .
中国专利 :CN108287126A ,2018-07-17
[5]
纳米颗粒粒径测量系统 [P]. 
黄鹭 ;
高思田 ;
施玉书 ;
李伟 ;
李琪 .
中国专利 :CN110455690A ,2019-11-15
[6]
光学驻波纳米颗粒尺寸测量装置 [P]. 
高秀敏 .
中国专利 :CN201429409Y ,2010-03-24
[7]
金属纳米颗粒粒径的测量系统 [P]. 
白本锋 ;
肖晓飞 ;
刘祯 .
中国专利 :CN105092432B ,2015-11-25
[8]
单个纳米颗粒粒径的测量系统 [P]. 
白本锋 ;
肖晓飞 .
中国专利 :CN105115865B ,2015-12-02
[9]
金属纳米颗粒平均粒径的测量系统及测量方法 [P]. 
白本锋 ;
肖晓飞 ;
刘祯 .
中国专利 :CN105092431B ,2015-11-25
[10]
单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法 [P]. 
白本锋 ;
肖晓飞 .
中国专利 :CN105043948A ,2015-11-11
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