基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210485286.8

申请日：

2012-11-26

公开(公告)号：

CN102998094A

公开(公告)日：

2013-03-27

发明(设计)人：

谭毅耿超罗文刘红梅武云云李新阳

申请人：

申请人地址：

610209 四川省成都市双流350信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01M1100

代理机构：

北京科迪生专利代理有限责任公司 11251

代理人：

杨学明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-02-18	授权	授权
2013-04-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101444330321 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2012104852868 申请日:20121126
2013-03-27	公开	公开
2023-01-10	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01M 11/02 登记生效日:20221228 变更事项:专利权人变更前权利人:中国科学院光电技术研究所变更后权利人:北京鸿羚科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:610209 四川省成都市双流350信箱变更后权利人:100196 北京市通州区北京经济技术开发区（通州）兴贸一街7号院1号楼7层101

共 50 条

[1]

一种电光相位调制器残余幅度调制系数的测试装置及方法 [P].

邹新海 ;

亓林 ;

郭俊启 ;

黎人溥 ;

刘宇 .

中国专利 :CN111970051A ,2020-11-20

[2]

基于光子技术的微波相位调制器 [P].

姜恒云 ;

闫连山 ;

陈智宇 ;

叶佳 ;

潘炜 ;

罗斌 ;

邹喜华 .

中国专利 :CN103117811A ,2013-05-22

[3]

光模块性能参数测试装置 [P].

邓彬 .

中国专利 :CN204089820U ,2015-01-07

[4]

一种基于相位比较的电光强度调制器啁啾参数测试方法 [P].

张尚剑 ;

金奇峰 ;

王梦珂 ;

何禹彤 ;

张旨遥 ;

张雅丽 ;

刘永 .

中国专利 :CN110017967A ,2019-07-16

[5]

基于双向光相位调制器的微波源相位噪声测量装置 [P].

周沛 ;

谢溢锋 ;

李念强 ;

江芝东 ;

周志华 .

中国专利 :CN113541789B ,2021-10-22

[6]

基于外差技术测试相位调制器半波电压的装置及方法 [P].

陈妍 ;

马慧莲 ;

彭博 ;

金仲和 .

中国专利 :CN101713701B ,2010-05-26

[7]

吸波材料性能参数测试装置 [P].

夏冬雪 .

中国专利 :CN215986270U ,2022-03-08

[8]

一种测量相位调制器非线性的测试方法及装置 [P].

薛敏 ;

黄浩 ;

潘时龙 ;

刘世锋 ;

杨坤钱 ;

衡雨清 ;

温战耀 ;

衡丽媛 ;

袁琳 ;

陈雅雯 ;

傅剑斌 .

中国专利 :CN120165773A ,2025-06-17

[9]

基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置及方法 [P].

郑华东 ;

曾震湘 ;

于瀛洁 ;

卢小仟 .

中国专利 :CN103454073B ,2013-12-18

[10]

包括分束器和线偏振模式相位调制器的相位调制器系统和用于将朝向该相位调制器传输和从该相位调制器反射回的光束分离的方法 [P].

A·巴罗克西 ;

G·埃戴 ;

P·科帕 ;

E·洛林茨 ;

J·雷门伊 ;

F·尤赫尔伊 .

中国专利 :CN101606097A ,2009-12-16

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