一种用于真空的三维形貌测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510374545.3

申请日：

2015-06-30

公开(公告)号：

CN105157615A

公开(公告)日：

2015-12-16

发明(设计)人：

韩林刘晓辉史楷何志成

申请人：

申请人地址：

200233 上海市徐汇区桂平路680号32-33幢1-2楼34幢1楼

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

上海科盛知识产权代理有限公司 31225

代理人：

翁惠瑜

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-25	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01B 11/25 登记生效日:20210512 变更事项:专利权人变更前权利人:上海航天动力科技工程有限公司变更后权利人:航天智造（上海）科技有限责任公司变更事项:地址变更前权利人:200233 上海市徐汇区桂平路680号32-33幢1-2楼，34幢1楼变更后权利人:201602 上海市松江区佘山镇强业路801弄9号10号变更事项:专利权人变更前权利人:兰州空间技术物理研究所变更后权利人:兰州空间技术物理研究所
2016-01-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101642478719 IPC(主分类):G01B 11/25 专利申请号:2015103745453 申请日:20150630
2015-12-16	公开	公开
2018-08-31	授权	授权

共 50 条

[1]

一种基于相位测量的物体三维形貌测量系统 [P].

任峰 ;

黄延平 ;

蒋正英 ;

张观欣 ;

轩洋 ;

孙成富 ;

时伟 .

中国专利 :CN202177371U ,2012-03-28

[2]

任意表面三维形貌测量系统 [P].

马少鹏 ;

刘程林 ;

马沁巍 ;

曾祥福 .

中国专利 :CN102538708A ,2012-07-04

[3]

三维形貌测量装置 [P].

余良彬 ;

王湧锋 ;

陈俊玓 .

中国专利 :CN112747686B ,2021-05-04

[4]

用于测量三维形貌的测量装置 [P].

黄鑫 .

中国专利 :CN210089643U ,2020-02-18

[5]

一种三维形貌测量装置 [P].

刘浪 ;

刘威 ;

战玉臣 ;

庞淑屏 ;

万晓新 .

中国专利 :CN104180773B ,2014-12-03

[6]

一种用于三维形貌测量的投影和摄像系统 [P].

吴志伟 ;

杨惠山 .

中国专利 :CN104930986B ,2015-09-23

[7]

一种用于表面三维形貌测量的白光干涉系统 [P].

李豪伟 ;

李慧鹏 ;

宋凝芳 ;

张春熹 .

中国专利 :CN110307805A ,2019-10-08

[8]

一种用于三维形貌测量的投影和摄像系统 [P].

吴志伟 ;

杨惠山 .

中国专利 :CN204807050U ,2015-11-25

[9]

一种三维形貌测量的方法和系统 [P].

徐玉华 ;

朱宪伟 .

中国专利 :CN108088391A ,2018-05-29

[10]

一种点扫描三维形貌测量系统标定方法 [P].

李旭东 ;

赵慧洁 ;

边赟 ;

李成杰 ;

姜宏志 .

中国专利 :CN102944188B ,2013-02-27

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