一种并行测试系统的治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201922193308.3

申请日：

2019-12-10

公开(公告)号：

CN211426562U

公开(公告)日：

2020-09-04

发明(设计)人：

沐君程运宝锁建兵郝品

申请人：

申请人地址：

215011 江苏省苏州市高新区鹿山路85号六号楼第二层

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265

代理人：

石磊

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-04	授权	授权

共 50 条

[1]

PCB并行测试治具 [P].

朱华犬 ;

刘开均 ;

贺占魁 .

中国专利 :CN203405545U ,2014-01-22

[2]

测试治具及测试系统 [P].

高德康 ;

李冬晗 ;

杨威 .

中国专利 :CN207965406U ,2018-10-12

[3]

一种测试治具和测试系统 [P].

陈正伟 ;

王建 ;

夏子阳 ;

张军 .

中国专利 :CN212965180U ,2021-04-13

[4]

一种测试治具及测试系统 [P].

周双华 ;

黄荣胜 ;

张亚飞 .

中国专利 :CN220288922U ,2024-01-02

[5]

一种测试治具及测试系统 [P].

杨亚龙 ;

张霞 ;

方晨旭 ;

郭俊君 ;

蔡敏敏 .

中国专利 :CN222232499U ,2024-12-24

[6]

一种测试治具及测试系统 [P].

陈正伟 ;

王建 .

中国专利 :CN209606571U ,2019-11-08

[7]

一种测试治具及测试系统 [P].

杨家文 .

中国专利 :CN216979190U ,2022-07-15

[8]

一种并行测试系统 [P].

林振国 ;

叶永权 ;

黄儒平 .

中国专利 :CN203191489U ,2013-09-11

[9]

一种功能测试系统的治具 [P].

沐君 ;

程运宝 ;

锁建兵 ;

刘小溪 ;

郝品 .

中国专利 :CN210833666U ,2020-06-23

[10]

一种射频测试系统的芯片测试治具 [P].

黄哲尔 ;

沈义明 ;

韦宗专 .

中国专利 :CN215575221U ,2022-01-18

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