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一种电子元器件外观检测方法
被引:0
申请号
:
CN202210278869.7
申请日
:
2022-03-17
公开(公告)号
:
CN114609146A
公开(公告)日
:
2022-06-10
发明(设计)人
:
蔡正军
申请人
:
申请人地址
:
224300 江苏省盐城市射阳县北环西路169号
IPC主分类号
:
G01N2188
IPC分类号
:
G01N2101
B65G4782
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-06-28
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20220317
2022-06-10
公开
公开
共 50 条
[1]
一种电子元器件外观检测设备
[P].
焦裕明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
焦裕明
.
中国专利
:CN216560289U
,2022-05-17
[2]
一种电子元器件外观检测设备及方法
[P].
郭名鹏
论文数:
0
引用数:
0
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0
郭名鹏
;
王桂林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王桂林
.
中国专利
:CN115338140A
,2022-11-15
[3]
一种电子元器件外观缺陷检测设备及其检测方法
[P].
邹有发
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
南通安快信息技术有限公司
南通安快信息技术有限公司
邹有发
;
万鹏
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
南通安快信息技术有限公司
南通安快信息技术有限公司
万鹏
;
刘鑫
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
南通安快信息技术有限公司
南通安快信息技术有限公司
刘鑫
.
中国专利
:CN119198546A
,2024-12-27
[4]
一种电子元器件外观检测装置
[P].
赵丽琼
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵丽琼
.
中国专利
:CN214953118U
,2021-11-30
[5]
一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法
[P].
邹玮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
俐玛光电科技(北京)有限公司
俐玛光电科技(北京)有限公司
邹玮
.
中国专利
:CN117862041B
,2024-07-23
[6]
一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法
[P].
邹玮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
俐玛光电科技(北京)有限公司
俐玛光电科技(北京)有限公司
邹玮
.
中国专利
:CN117862041A
,2024-04-12
[7]
一种电子元器件外观检测方法和检测装置
[P].
张艳明
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
张艳明
.
中国专利
:CN118446967A
,2024-08-06
[8]
电子元器件外观检测设备(1)
[P].
胡少强
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
湖南艾华集团股份有限公司
湖南艾华集团股份有限公司
胡少强
;
艾亮
论文数:
0
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0
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0
机构:
湖南艾华集团股份有限公司
湖南艾华集团股份有限公司
艾亮
;
熊立时
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
湖南艾华集团股份有限公司
湖南艾华集团股份有限公司
熊立时
.
中国专利
:CN309280193S
,2025-05-09
[9]
电子元器件外观检测设备(2)
[P].
胡少强
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
湖南艾华集团股份有限公司
湖南艾华集团股份有限公司
胡少强
;
艾亮
论文数:
0
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0
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0
机构:
湖南艾华集团股份有限公司
湖南艾华集团股份有限公司
艾亮
;
熊立时
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
湖南艾华集团股份有限公司
湖南艾华集团股份有限公司
熊立时
.
中国专利
:CN309280194S
,2025-05-09
[10]
一种电子元器件外观缺陷检测设备
[P].
乔磊
论文数:
0
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0
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乔磊
;
麻栋天
论文数:
0
引用数:
0
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0
麻栋天
.
中国专利
:CN215297106U
,2021-12-24
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