一种电子元器件外观检测方法

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申请号
CN202210278869.7
申请日
2022-03-17
公开(公告)号
CN114609146A
公开(公告)日
2022-06-10
发明(设计)人
蔡正军
申请人
申请人地址
224300 江苏省盐城市射阳县北环西路169号
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
G01N2101 B65G4782
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种电子元器件外观检测设备 [P]. 
焦裕明 .
中国专利 :CN216560289U ,2022-05-17
[2]
一种电子元器件外观检测设备及方法 [P]. 
郭名鹏 ;
王桂林 .
中国专利 :CN115338140A ,2022-11-15
[3]
一种电子元器件外观缺陷检测设备及其检测方法 [P]. 
邹有发 ;
万鹏 ;
刘鑫 .
中国专利 :CN119198546A ,2024-12-27
[4]
一种电子元器件外观检测装置 [P]. 
赵丽琼 .
中国专利 :CN214953118U ,2021-11-30
[5]
一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法 [P]. 
邹玮 .
中国专利 :CN117862041B ,2024-07-23
[6]
一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法 [P]. 
邹玮 .
中国专利 :CN117862041A ,2024-04-12
[7]
一种电子元器件外观检测方法和检测装置 [P]. 
张艳明 .
中国专利 :CN118446967A ,2024-08-06
[8]
电子元器件外观检测设备(1) [P]. 
胡少强 ;
艾亮 ;
熊立时 .
中国专利 :CN309280193S ,2025-05-09
[9]
电子元器件外观检测设备(2) [P]. 
胡少强 ;
艾亮 ;
熊立时 .
中国专利 :CN309280194S ,2025-05-09
[10]
一种电子元器件外观缺陷检测设备 [P]. 
乔磊 ;
麻栋天 .
中国专利 :CN215297106U ,2021-12-24