检测电容变化的方法和集成电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510090301.9

申请日：

2005-08-12

公开(公告)号：

CN100460880C

公开(公告)日：

2006-03-08

发明(设计)人：

李相喆

申请人：

申请人地址：

韩国首尔

IPC主分类号：

G01R2726

IPC分类号：

代理机构：

北京润平知识产权代理有限公司

代理人：

周建秋;王凤桐

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2006-03-08	公开	公开
2009-02-11	授权	授权
2007-07-25	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

电容检测电路、集成电路以及电容检测方法 [P].

陈敏 ;

陈培腾 .

中国专利 :CN111726113B ,2025-02-07

[2]

电容检测电路、集成电路以及电容检测方法 [P].

陈敏 ;

陈培腾 .

中国专利 :CN111726113A ,2020-09-29

[3]

集成电路的电容 [P].

叶润林 ;

廖伟智 .

中国专利 :CN104617091A ,2015-05-13

[4]

检测电路和集成电路 [P].

迪克·布克 ;

莫瑞恩·范东恩 .

中国专利 :CN112782484B ,2025-02-07

[5]

检测电路和集成电路 [P].

迪克·布克 ;

莫瑞恩·范东恩 .

中国专利 :CN112782484A ,2021-05-11

[6]

电容检测电路、集成电路、电子设备以及电容检测方法 [P].

陈培腾 ;

陈敏 ;

吴红兵 .

中国专利 :CN111595494B ,2020-08-28

[7]

电容检测电路、集成电路、电子设备以及电容检测方法 [P].

陈培腾 ;

陈敏 ;

吴红兵 .

中国专利 :CN114924128B ,2024-08-27

[8]

电容检测电路、集成电路、电子设备以及电容检测方法 [P].

陈培腾 ;

陈敏 ;

吴红兵 .

中国专利 :CN114924128A ,2022-08-19

[9]

用于集成电路的检测电路和方法 [P].

陈先敏 ;

杨家奇 .

中国专利 :CN105301483B ,2016-02-03

[10]

操作集成电路的方法和集成电路 [P].

吕士濂 .

中国专利 :CN113571107A ,2021-10-29

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