用于集成电路的检测电路和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410353856.7

申请日：

2014-07-23

公开(公告)号：

CN105301483B

公开(公告)日：

2016-02-03

发明(设计)人：

陈先敏杨家奇

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江路18号

IPC主分类号：

G01R313181

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

李志刚;吴贵明

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-02-03	公开	公开
2016-03-02	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101649089135 IPC(主分类):G01R 31/3181 专利申请号:2014103538567 申请日:20140723
2019-01-08	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路和用于集成电路的方法 [P].

布莱恩·J·卡姆普贝尔 ;

温森特·R·万卡纳尔 ;

格莱格里·S·斯柯特 ;

斯里巴兰·森萨纳姆 ;

丹尼尔·C·穆雷 .

中国专利 :CN102157188B ,2011-08-17

[2]

电流检测电路和集成电路 [P].

欧阳毅 ;

郑重 ;

景娜 ;

徐骁雯 .

中国专利 :CN207148199U ,2018-03-27

[3]

集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P].

张俊谋 ;

卢山 ;

张闯 ;

陈一敏 ;

王剑 ;

成园林 .

中国专利 :CN115308467A ,2022-11-08

[4]

集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P].

张俊谋 ;

卢山 ;

张闯 ;

陈一敏 ;

王剑 ;

成园林 .

:CN115308467B ,2025-12-23

[5]

检测电路和集成电路 [P].

迪克·布克 ;

莫瑞恩·范东恩 .

中国专利 :CN112782484B ,2025-02-07

[6]

检测电路和集成电路 [P].

迪克·布克 ;

莫瑞恩·范东恩 .

中国专利 :CN112782484A ,2021-05-11

[7]

集成电路和指定集成电路的方法 [P].

M·帕德福克 ;

T·勒 ;

T·普夫吕格尔 ;

S·邦塞尔斯 .

中国专利 :CN101144847A ,2008-03-19

[8]

集成电路以及用于集成电路的方法 [P].

孙俊岳 ;

陈利杰 .

中国专利 :CN103856209B ,2014-06-11

[9]

用于集成电路中的电压检测的电路和方法 [P].

P·帕特尔 ;

S·范加尔 ;

P·克伯尔 ;

M·鲍帝斯塔加布里尔 ;

J·尚茨 ;

C·托库纳加 .

中国专利 :CN113447800A ,2021-09-28

[10]

集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置 [P].

金范柱 .

中国专利 :CN104422878A ,2015-03-18

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