用于集成电路中的电压检测的电路和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011516912.6

申请日：

2020-12-21

公开(公告)号：

CN113447800A

公开(公告)日：

2021-09-28

发明(设计)人：

P·帕特尔 S·范加尔 P·克伯尔 M·鲍帝斯塔加布里尔 J·尚茨 C·托库纳加

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G01R31317

IPC分类号：

G01R313183 G01R31319

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

李啸;姜冰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-28	公开	公开

共 50 条

[1]

用于检测集成电路中的供应电压降低的电路和方法 [P].

刘秉忱 ;

G·陈 ;

V·孔达帕利 .

中国专利 :CN115575791A ,2023-01-06

[2]

集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P].

张俊谋 ;

卢山 ;

张闯 ;

陈一敏 ;

王剑 ;

成园林 .

中国专利 :CN115308467A ,2022-11-08

[3]

集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P].

张俊谋 ;

卢山 ;

张闯 ;

陈一敏 ;

王剑 ;

成园林 .

:CN115308467B ,2025-12-23

[4]

用于集成电路的检测电路和方法 [P].

陈先敏 ;

杨家奇 .

中国专利 :CN105301483B ,2016-02-03

[5]

集成电路中的电压检测电路以及产生触发标志信号的方法 [P].

W·W·阿巴德尔 ;

J·A·法菲尔德 ;

A·M·舒 ;

J·S·布朗 .

中国专利 :CN101226219B ,2008-07-23

[6]

集成电路中的错误检测 [P].

S·亨兹勒 ;

D·洛伦茨 ;

M·沃恩肖弗 .

中国专利 :CN101819254B ,2010-09-01

[7]

一种具有电压检测的高压集成电路 [P].

冯宇翔 ;

谢荣才 ;

周西军 ;

张土明 ;

黄浩 .

中国专利 :CN117347823A ,2024-01-05

[8]

集成电路和用于诊断集成电路的方法 [P].

E·奥夫雷 ;

T·梅里斯 ;

P·西里托-奥利维耶 .

法国专利 :CN113945819B ,2024-07-19

[9]

集成电路和用于诊断集成电路的方法 [P].

E·奥夫雷 ;

T·梅里斯 ;

P·西里托-奥利维耶 .

中国专利 :CN113945819A ,2022-01-18

[10]

集成电路中的电压毛刺检测 [P].

安德烈亚斯·伦茨 ;

安德烈亚斯·伯纳德斯·玛丽亚·扬斯曼 .

中国专利 :CN113901447A ,2022-01-07

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