嵌入式系统的测试系统及方法

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专利类型
发明
申请号
CN200710202599.7
申请日
2007-11-20
公开(公告)号
CN101441592A
公开(公告)日
2009-05-27
发明(设计)人
童默颖 董华 洪学文 唐庆宗 赵红波
申请人
申请人地址
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
IPC主分类号
G06F1128
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
嵌入式系统的掉电测试系统及方法 [P]. 
林晋安 ;
林亮 .
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罗挺 ;
吴大畏 .
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[3]
嵌入式系统的测试方法、测试装置和测试系统 [P]. 
周博 ;
郭平日 ;
李奇峰 ;
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嵌入式设备测试系统及方法 [P]. 
刘雅彬 ;
刘萍 .
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嵌入式文件系统的测试方法及系统 [P]. 
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嵌入式系统的测试装置及测试方法 [P]. 
陈志强 ;
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[7]
嵌入式系统的测试装置及方法 [P]. 
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[8]
嵌入式系统的测试方法、装置及设备 [P]. 
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[9]
一种嵌入式系统的测试方法及系统 [P]. 
张玎 ;
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[10]
嵌入式系统的自动化测试系统及方法 [P]. 
王奎 ;
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马全伟 ;
秦建鑫 ;
周大鹏 ;
张君宝 ;
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