嵌入式系统的测试方法、装置及设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311797383.5

申请日：

2023-12-25

公开(公告)号：

CN118672892A

公开(公告)日：

2024-09-20

发明(设计)人：

王陈张浩赵坤杨亚光龙飞陈立平

申请人：

中国科学院微电子研究所

申请人地址：

100020 北京市朝阳区北土城西路3号

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448

代理人：

贾依娇

法律状态：

公开

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-20	公开	公开
2024-10-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20231225

共 50 条

[1]

嵌入式系统的测试方法、装置、设备、介质及程序产品 [P].

赵国亮 ;

王爱菲 ;

孙梦悦 ;

张延坤 ;

董丽 ;

张鑫 ;

康路 .

中国专利 :CN119739642A ,2025-04-01

[2]

嵌入式系统的测试系统及方法 [P].

童默颖 ;

董华 ;

洪学文 ;

唐庆宗 ;

赵红波 .

中国专利 :CN101441592A ,2009-05-27

[3]

测试嵌入式操作系统的处理方法、装置、设备及介质 [P].

沈煜恒 ;

刘健中 ;

徐意如 ;

姜宇 .

中国专利 :CN118069531A ,2024-05-24

[4]

嵌入式系统测试的辅助装置及方法 [P].

范朝宗 ;

谢忠仁 ;

欧阳铭修 .

中国专利 :CN101452415B ,2009-06-10

[5]

嵌入式系统的测试方法、系统、装置、设备及存储介质 [P].

陈亮 ;

李仁刚 ;

张闯 ;

谢志勇 .

中国专利 :CN113157508A ,2021-07-23

[6]

嵌入式设备测试系统及方法 [P].

林玉龙 ;

董华 ;

谭杰君 ;

谢奕勇 .

中国专利 :CN102331952A ,2012-01-25

[7]

嵌入式设备测试系统及方法 [P].

刘雅彬 ;

刘萍 .

中国专利 :CN101539877A ,2009-09-23

[8]

用于嵌入式系统测试的系统、方法、设备以及介质 [P].

刘东坡 ;

王雷 ;

陆文艳 .

中国专利 :CN113836031B ,2024-05-10

[9]

用于嵌入式系统测试的系统、方法、设备以及介质 [P].

刘东坡 ;

王雷 ;

陆文艳 .

中国专利 :CN113836031A ,2021-12-24

[10]

嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统 [P].

罗挺 ;

吴大畏 .

中国专利 :CN103208314A ,2013-07-17

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