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X射线检查装置以及X射线检查方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201911257396.7
申请日：
2019-12-10
公开(公告)号：
CN111650223A
公开(公告)日：
2020-09-11
发明(设计)人：
巽正树
八木勇夫
高桥春男
申请人：
申请人地址：
日本东京都
IPC主分类号：
G01N2304
IPC分类号：
代理机构：
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：
黄志坚;崔成哲
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-09-11 | 公开 | 公开 |
| 2021-11-26 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20191210 |