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X射线检查装置以及X射线检查方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202480015512.7
申请日：
2024-02-28
公开(公告)号：
CN120787310A
公开(公告)日：
2025-10-14
发明(设计)人：
七吕真 曾我部智之 小原晃
申请人：
欧姆龙株式会社
申请人地址：
日本国京都府京都市
IPC主分类号：
G01N23/046
IPC分类号：
代理机构：
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：
徐丹;欧阳柳青
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-14 公开 公开
2025-10-31 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/046申请日:20240228
共 50 条
[1]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
七吕真 ;
惠木守 .
中国专利 :CN114026411B ,2022-02-08
[2]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
七吕真 ;
笠原启雅 .
中国专利 :CN115078416A ,2022-09-20
[3]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
七吕真 ;
惠木守 .
中国专利 :CN115078417A ,2022-09-20
[4]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
七吕真 ;
惠木守 .
日本专利 :CN115078417B ,2025-06-03
[5]
X射线检查方法以及X射线检查装置 [P]. 
益田真之 ;
松波刚 ;
小泉治幸 .
中国专利 :CN101266217A ,2008-09-17
[6]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
巽正树 ;
八木勇夫 ;
高桥春男 .
中国专利 :CN111650223A ,2020-09-11
[7]
X射线检查方法以及X射线检查装置 [P]. 
浦野雄太 ;
张开锋 ;
的场吉毅 ;
竹田明弘 .
中国专利 :CN108307656A ,2018-07-20
[8]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
巽正树 ;
八木勇夫 ;
高桥春男 .
日本专利 :CN111650223B ,2024-05-14
[9]
X射线检查装置及X射线检查方法 [P]. 
杉田信治 ;
梅本勇治 ;
大西贵子 .
中国专利 :CN107490586A ,2017-12-19
[10]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
山河勉 ;
山本修一郎 ;
山崎雅志 .
中国专利 :CN106030293A ,2016-10-12
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