一种芯片功耗测试电路

被引：0

申请号：

CN202122044581.7

申请日：

2021-08-27

公开(公告)号：

CN216248224U

公开(公告)日：

2022-04-08

发明(设计)人：

顾胜

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区松岗街道楼岗社区大洋工业区35号厂房4栋301

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙) 44646

代理人：

高兰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-08	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于芯片测试的电路保护机制 [P].

陈宗廷 ;

陈建光 ;

戴洋洋 ;

林国智 .

中国专利 :CN118198982A ,2024-06-14

[2]

一种功耗测试电路及微处理芯片 [P].

陈致源 ;

胡立超 ;

谭莲子 ;

胡以宸 ;

陈康 ;

刘智力 .

中国专利 :CN220913531U ,2024-05-07

[3]

一种芯片测试电路、芯片及测试方法 [P].

李宏俊 ;

谭鑫 ;

聂玉庆 .

中国专利 :CN120468631B ,2025-10-21

[4]

一种芯片测试电路、芯片及测试方法 [P].

李宏俊 ;

谭鑫 ;

聂玉庆 .

中国专利 :CN120468631A ,2025-08-12

[5]

一种电路保护芯片测试装置 [P].

孙敏 ;

凌丹 ;

于登涛 .

中国专利 :CN215449492U ,2022-01-07

[6]

一种用于芯片测试的电路结构 [P].

陈石 ;

于福振 .

中国专利 :CN221841156U ,2024-10-15

[7]

一种模数转换芯片量产测试电路 [P].

杨栋 ;

严凌志 ;

涂柏生 .

中国专利 :CN205123711U ,2016-03-30

[8]

一种芯片功耗的测试方法、装置、设备和介质 [P].

王凯 ;

符云越 ;

刘凯 .

中国专利 :CN119716490A ,2025-03-28

[9]

一种芯片测试电路结构 [P].

刘凯峰 .

中国专利 :CN119335372B ,2025-03-14

[10]

一种芯片测试电路结构 [P].

刘凯峰 .

中国专利 :CN119335372A ,2025-01-21

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