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一种芯片功耗的测试方法、装置、设备和介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510058454.2
申请日：
2025-01-14
公开(公告)号：
CN119716490A
公开(公告)日：
2025-03-28
发明(设计)人：
王凯 符云越 刘凯
申请人：
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
申请人地址：
250000 山东省济南市高新区港西路2177号港盛大厦4层401室
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250
代理人：
赵梦遥
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-15 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250114
2025-03-28 公开 公开
共 50 条
[1]
用于芯片测试的方法、装置、设备和介质 [P]. 
吴涛 ;
韩丽娟 ;
刁永翔 ;
汪宏志 .
中国专利 :CN121027804A ,2025-11-28
[2]
一种芯片功耗测试电路 [P]. 
顾胜 .
中国专利 :CN216248224U ,2022-04-08
[3]
芯片的测试方法、装置、测试芯片和存储介质 [P]. 
高凯仑 ;
曾超 ;
单洋洋 ;
王瑞娜 .
中国专利 :CN117250484B ,2024-03-12
[4]
芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P]. 
孙军凯 ;
张柯 ;
孟祥刚 ;
蒋曦 .
中国专利 :CN114280454B ,2024-01-23
[5]
芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P]. 
孙军凯 ;
张柯 ;
孟祥刚 ;
蒋曦 .
中国专利 :CN114280454A ,2022-04-05
[6]
芯片和芯片测试方法 [P]. 
刘海亮 ;
汪再金 .
中国专利 :CN110554298A ,2019-12-10
[7]
一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
曹振 ;
杨佳威 ;
陈南 .
中国专利 :CN119247107A ,2025-01-03
[8]
一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
曹振 ;
杨佳威 ;
陈南 .
中国专利 :CN119247107B ,2025-11-25
[9]
芯片测试板、芯片测试方法、装置、系统、设备及介质 [P]. 
齐迪 .
中国专利 :CN120629877A ,2025-09-12
[10]
一种芯片的功耗测试系统和设备 [P]. 
李军 ;
张军 ;
徐方海 ;
王景华 .
中国专利 :CN110297171A ,2019-10-01
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