芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质

被引：0

申请号：

CN202111612655.0

申请日：

2021-12-27

公开(公告)号：

CN114280454A

公开(公告)日：

2022-04-05

发明(设计)人：

孙军凯张柯孟祥刚蒋曦

申请人：

申请人地址：

710000 陕西省西安市高新区唐延路51号西安人寿壹中心人寿1栋8层XAGSZHLR810

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

杨奇松

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211227
2022-04-05	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P].

孙军凯 ;

张柯 ;

孟祥刚 ;

蒋曦 .

中国专利 :CN114280454B ,2024-01-23

[2]

芯片测试方法、测试机及存储介质 [P].

魏津 ;

徐润生 ;

鄢书丹 .

中国专利 :CN113514758A ,2021-10-19

[3]

芯片测试方法、装置、测试机及存储介质 [P].

李腾 .

中国专利 :CN118425732A ,2024-08-02

[4]

芯片测试方法、装置、测试机及存储介质 [P].

旷渝 ;

李安平 ;

陈杰夫 ;

杨泽坤 .

中国专利 :CN120949005A ,2025-11-14

[5]

芯片的测试方法、装置、测试芯片和存储介质 [P].

高凯仑 ;

曾超 ;

单洋洋 ;

王瑞娜 .

中国专利 :CN117250484B ,2024-03-12

[6]

芯片测试方法、装置、芯片及存储介质 [P].

李晨 ;

肖珂 ;

布恩辉 ;

李健强 .

中国专利 :CN113641541A ,2021-11-12

[7]

芯片测试筛选方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

廖钰 .

中国专利 :CN118569153B ,2025-12-26

[8]

测试针装置及芯片测试机 [P].

段雄斌 ;

张利利 ;

庞华贵 ;

何选民 .

中国专利 :CN218068209U ,2022-12-16

[9]

芯片质量测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

禹乾勋 .

中国专利 :CN118467517A ,2024-08-09

[10]

芯片测试筛选方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

廖钰 .

中国专利 :CN118569153A ,2024-08-30

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