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芯片测试筛选方法、装置、测试设备及存储介质
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410653663.7
申请日：
2024-05-24
公开(公告)号：
CN118569153A
公开(公告)日：
2024-08-30
发明(设计)人：
廖钰
申请人：
深圳市华力宇电子科技有限公司
申请人地址：
518100 广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田杨贝工业区一期4栋201、301、402、602、603、6栋4楼B区、5楼
IPC主分类号：
G06F30/33
IPC分类号：
G01R31/28
G06F30/337
代理机构：
代理人：
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省
深圳市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-09-17 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/33申请日:20240524 |
| 2025-12-26 | 授权 | 授权 |
| 2024-08-30 | 公开 | 公开 |