芯片测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202211153975.9

申请日：

2022-09-21

公开(公告)号：

CN115437866A

公开(公告)日：

2022-12-06

发明(设计)人：

丁赛赛仰蕾熊世英封芳许崇

申请人：

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F1126

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

孙宝海

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-06	公开	公开
2022-12-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20220921

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、存储介质及设备 [P].

吴义桂 ;

何骁伟 ;

杨国文 ;

季宿儒 ;

张清华 .

中国专利 :CN112782560A ,2021-05-11

[2]

芯片闩锁效应测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN121231986A ,2025-12-30

[3]

芯片测试筛选方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

廖钰 .

中国专利 :CN118569153B ,2025-12-26

[4]

芯片质量测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

禹乾勋 .

中国专利 :CN118467517A ,2024-08-09

[5]

芯片测试筛选方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

廖钰 .

中国专利 :CN118569153A ,2024-08-30

[6]

LED驱动芯片的测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

马芝 ;

张丽娜 .

中国专利 :CN120490774A ,2025-08-15

[7]

芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P].

孙军凯 ;

张柯 ;

孟祥刚 ;

蒋曦 .

中国专利 :CN114280454B ,2024-01-23

[8]

芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P].

孙军凯 ;

张柯 ;

孟祥刚 ;

蒋曦 .

中国专利 :CN114280454A ,2022-04-05

[9]

芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质 [P].

谢海 ;

温海珊 ;

彭小飞 ;

文少东 ;

吴亮 ;

张首勇 ;

郑敏 ;

田烜宁 .

中国专利 :CN119001391A ,2024-11-22

[10]

芯片分选方法、装置、设备及存储介质 [P].

孔方 .

中国专利 :CN118060206A ,2024-05-24

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