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芯片的测试方法、装置、测试芯片和存储介质
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311545016.6
申请日：
2023-11-20
公开(公告)号：
CN117250484B
公开(公告)日：
2024-03-12
发明(设计)人：
高凯仑
曾超
单洋洋
王瑞娜
申请人：
北京小米移动软件有限公司
申请人地址：
100085 北京市海淀区西二旗中路33号院6号楼8层018号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京法胜知识产权代理有限公司 11922
代理人：
罗岚
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
北京市
市辖区
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-01-05 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231120 |
| 2024-03-12 | 授权 | 授权 |