芯片和芯片测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910796124.8

申请日：

2019-08-27

公开(公告)号：

CN110554298A

公开(公告)日：

2019-12-10

发明(设计)人：

刘海亮汪再金

申请人：

申请人地址：

213000 江苏省常州市武进区武进国家高新技术产业开发区新雅路18号528室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G08C1900 H04L1202

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

荣颖佳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20190827
2022-03-22	授权	授权
2019-12-10	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法 [P].

王永胜 ;

刘勤让 ;

朱珂 ;

沈剑良 ;

宋克 ;

吕平 ;

张进 ;

张波 ;

李沛杰 ;

毛英杰 ;

张帆 ;

王锐 ;

何浩 ;

李杨 ;

赵玉林 ;

虎艳宾 ;

张霞 .

中国专利 :CN108387838A ,2018-08-10

[2]

芯片测试方法和装置 [P].

孔庆凯 ;

王清坤 ;

宫相坤 ;

贾耀仓 .

中国专利 :CN113791338B ,2021-12-14

[3]

可调节芯片测试板和芯片测试方法 [P].

张肖 ;

鲁鹏 ;

鹿祥宾 .

中国专利 :CN117590206B ,2024-04-02

[4]

可调节芯片测试板和芯片测试方法 [P].

张肖 ;

鲁鹏 ;

鹿祥宾 .

中国专利 :CN117590206A ,2024-02-23

[5]

芯片测试板和芯片测试方法 [P].

简维廷 ;

徐孝景 ;

程波 ;

张荣哲 ;

邹春梅 .

中国专利 :CN104865412A ,2015-08-26

[6]

芯片的测试方法、装置、测试芯片和存储介质 [P].

高凯仑 ;

曾超 ;

单洋洋 ;

王瑞娜 .

中国专利 :CN117250484B ,2024-03-12

[7]

芯片测试夹具和芯片测试装置 [P].

张婵娟 ;

王国峰 .

中国专利 :CN117330930A ,2024-01-02

[8]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN118519843B ,2024-12-06

[9]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN118519843A ,2024-08-20

[10]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

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