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可调节芯片测试板和芯片测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410078761.2
申请日：
2024-01-19
公开(公告)号：
CN117590206B
公开(公告)日：
2024-04-02
发明(设计)人：
张肖
鲁鹏
鹿祥宾
申请人：
北京芯可鉴科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
申请人地址：
102299 北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京正砚知识产权代理有限公司 16161
代理人：
高敏
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
北京市
市辖区
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-03-12 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240119 |
| 2024-04-02 | 授权 | 授权 |
| 2024-02-23 | 公开 | 公开 |