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可调节压降的测试芯片和芯片测试方法
被引：0
申请号：
CN202210614439.8
申请日：
2022-05-31
公开(公告)号：
CN114879021A
公开(公告)日：
2022-08-09
发明(设计)人：
吴瑞琦
郑国忠
申请人：
申请人地址：
361101 福建省厦门市厦门火炬高新区创业园诚业楼201室
IPC主分类号：
G01R31317
IPC分类号：
代理机构：
北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444
代理人：
罗艳
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-08-09 | 公开 | 公开 |
| 2022-08-26 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/317 申请日:20220531 |