芯片测试转接板和芯片转接测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202021008475.2

申请日：

2020-06-04

公开(公告)号：

CN212749147U

公开(公告)日：

2021-03-19

发明(设计)人：

刘伟源孔晓琳刘伟刘乐王健云星陈友平

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

闫冰冰

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-19	授权	授权
2022-03-11	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:专利权人变更前:深圳米飞泰克科技有限公司变更后:深圳米飞泰克科技股份有限公司变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层变更后:518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

共 50 条

[1]

芯片测试转接装置 [P].

郑颖槟 ;

陈宗熙 ;

李国军 ;

凌俊义 .

中国专利 :CN223139631U ,2025-07-22

[2]

芯片测试用转接模组及芯片测试装置 [P].

李超 ;

闻岳 ;

钱澄 ;

杨斌 .

中国专利 :CN220961612U ,2024-05-14

[3]

一种芯片测试转接设备和芯片测试系统 [P].

于福振 ;

黄征 ;

张文丽 ;

孙铁 ;

杨姣 ;

黄新东 ;

请求不公布姓名 ;

张飞飞 ;

张亮 .

中国专利 :CN221303390U ,2024-07-09

[4]

芯片测试板、芯片测试装置和测试系统 [P].

王丽荣 ;

李华星 ;

胡晓辉 .

中国专利 :CN223552255U ,2025-11-14

[5]

芯片测试转接装置及芯片测试设备 [P].

齐振彬 ;

甘杰 ;

王喆 ;

胡晓波 ;

刘浩 ;

谢旭明 ;

刘辉志 ;

张佩 ;

沙伟燕 .

中国专利 :CN111222182A ,2020-06-02

[6]

测试转接板及测试系统 [P].

李端 .

中国专利 :CN220553281U ,2024-03-01

[7]

LPDDR5芯片测试方法及转接板 [P].

罗泽嘉 ;

谢登煌 .

中国专利 :CN119626306A ,2025-03-14

[8]

信号转接板、芯片测试装置及测试方法 [P].

钱向东 ;

卢旭坤 ;

袁俊 ;

覃瑜 ;

肖岚天 .

中国专利 :CN113358902A ,2021-09-07

[9]

测试转接板和测试系统 [P].

李华星 ;

倪黄忠 ;

俞文全 .

中国专利 :CN220381174U ,2024-01-23

[10]

电路转接板和测试系统 [P].

孙凌云 ;

赵志勇 .

中国专利 :CN211630390U ,2020-10-02

← 1 2 3 4 5 →