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信号转接板、芯片测试装置及测试方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110645034.6
申请日：
2021-06-08
公开(公告)号：
CN113358902A
公开(公告)日：
2021-09-07
发明(设计)人：
钱向东 卢旭坤 袁俊 覃瑜 肖岚天
申请人：
申请人地址：
523000 广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3128
代理机构：
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人：
张艳美;赵贯杰
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-09-24 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20210608
2021-09-07 公开 公开
共 50 条
[1]
芯片测试用转接模组及芯片测试装置 [P]. 
李超 ;
闻岳 ;
钱澄 ;
杨斌 .
中国专利 :CN220961612U ,2024-05-14
[2]
信号转接板及信号转接测试装置 [P]. 
杨瑞 .
中国专利 :CN114563643B ,2025-09-09
[3]
信号转接板及信号转接测试装置 [P]. 
杨瑞 .
中国专利 :CN114563643A ,2022-05-31
[4]
芯片转接板及含有该转接板的芯片测试装置 [P]. 
张育嘉 .
中国专利 :CN117783807A ,2024-03-29
[5]
测试转接板及测试装置 [P]. 
张兴泽 .
中国专利 :CN216599867U ,2022-05-24
[6]
芯片测试转接板和芯片转接测试系统 [P]. 
刘伟源 ;
孔晓琳 ;
刘伟 ;
刘乐 ;
王健 ;
云星 ;
陈友平 .
中国专利 :CN212749147U ,2021-03-19
[7]
芯片测试装置及芯片测试方法 [P]. 
孙浩涛 ;
尹文芹 ;
贾红 ;
程显志 ;
陈维新 ;
韦嶔 .
中国专利 :CN109307833A ,2019-02-05
[8]
浮动转接结构及芯片测试装置 [P]. 
殷岚勇 ;
李亚鹏 ;
徐亮 .
中国专利 :CN118226226B ,2025-02-28
[9]
浮动转接结构及芯片测试装置 [P]. 
殷岚勇 ;
李亚鹏 ;
徐亮 .
中国专利 :CN118226226A ,2024-06-21
[10]
信号测试电路、测试芯片及测试装置 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN119575049B ,2025-04-18
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