芯片测试转接装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421767746.0

申请日：

2024-07-24

公开(公告)号：

CN223139631U

公开(公告)日：

2025-07-22

发明(设计)人：

郑颖槟陈宗熙李国军凌俊义

申请人：

深圳宏芯宇电子股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园2栋2501、2401、1501

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651

代理人：

范伟民

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-22	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试转接板和芯片转接测试系统 [P].

刘伟源 ;

孔晓琳 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

王健 ;

云星 ;

陈友平 .

中国专利 :CN212749147U ,2021-03-19

[2]

芯片测试用转接模组及芯片测试装置 [P].

李超 ;

闻岳 ;

钱澄 ;

杨斌 .

中国专利 :CN220961612U ,2024-05-14

[3]

芯片测试转接装置及芯片测试设备 [P].

齐振彬 ;

甘杰 ;

王喆 ;

胡晓波 ;

刘浩 ;

谢旭明 ;

刘辉志 ;

张佩 ;

沙伟燕 .

中国专利 :CN111222182A ,2020-06-02

[4]

浮动转接结构及芯片测试装置 [P].

殷岚勇 ;

李亚鹏 ;

徐亮 .

中国专利 :CN118226226B ,2025-02-28

[5]

浮动转接结构及芯片测试装置 [P].

殷岚勇 ;

李亚鹏 ;

徐亮 .

中国专利 :CN118226226A ,2024-06-21

[6]

LPDDR5芯片测试方法及转接板 [P].

罗泽嘉 ;

谢登煌 .

中国专利 :CN119626306A ,2025-03-14

[7]

转接装置、测试系统及测试方法 [P].

史攀 ;

霍军军 .

中国专利 :CN115856591B ,2024-04-16

[8]

一种芯片测试转接装置 [P].

王清松 ;

雷江 ;

于长亮 .

中国专利 :CN113484720A ,2021-10-08

[9]

测试针装置及芯片测试机 [P].

段雄斌 ;

张利利 ;

庞华贵 ;

何选民 .

中国专利 :CN218068209U ,2022-12-16

[10]

信号转接板、芯片测试装置及测试方法 [P].

钱向东 ;

卢旭坤 ;

袁俊 ;

覃瑜 ;

肖岚天 .

中国专利 :CN113358902A ,2021-09-07

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