芯片检测系统及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810294312.6

申请日：

2018-04-04

公开(公告)号：

CN108686967A

公开(公告)日：

2018-10-23

发明(设计)人：

潘咏民

申请人：

申请人地址：

618500 四川省德阳市罗江县工业园区

IPC主分类号：

B07C500

IPC分类号：

B07C534 B07C5344 B07C502

代理机构：

成都市集智汇华知识产权代理事务所(普通合伙) 51237

代理人：

李华;温黎娟

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-10-23	公开	公开
2018-11-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/00 申请日:20180404

共 50 条

[1]

芯片检测系统 [P].

潘咏民 .

中国专利 :CN208275776U ,2018-12-25

[2]

芯片检测系统及检测方法 [P].

郭健强 .

中国专利 :CN103823149A ,2014-05-28

[3]

芯片检测方法及芯片检测系统 [P].

王洲 ;

唐晓楠 ;

孙烨磊 ;

李慧清 ;

杨雷明 ;

杨威 ;

王春祥 ;

邰阳 ;

宋雨江 ;

巴宁 ;

韩亚 ;

徐彦卿 .

中国专利 :CN115629300A ,2023-01-20

[4]

一种芯片检测方法及芯片检测系统 [P].

郑澎 ;

梁诚 ;

郑曙涛 ;

莫树任 .

中国专利 :CN117370755A ,2024-01-09

[5]

芯片检测系统及检测方法 [P].

漫自强 ;

于楚翘 ;

刘腾 ;

赵博 ;

施洋洋 ;

秦俊 ;

刘欢 ;

朱应峰 ;

李钢 ;

高翔 ;

张堃 ;

娄季献 ;

顾超 .

中国专利 :CN119738408A ,2025-04-01

[6]

风扇检测芯片、风扇检测方法及风扇检测系统 [P].

吴俊仪 .

中国专利 :CN109209962A ,2019-01-15

[7]

芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质 [P].

唐平 .

中国专利 :CN113778734A ,2021-12-10

[8]

芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质 [P].

唐平 .

中国专利 :CN113778734B ,2024-07-12

[9]

检测芯片、检测设备、检测系统和检测方法 [P].

张湛 .

中国专利 :CN112557684B ,2025-06-13

[10]

检测芯片、检测设备、检测系统和检测方法 [P].

张湛 .

中国专利 :CN112557684A ,2021-03-26

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