一种开、短路测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201922488001.6

申请日：

2019-12-31

公开(公告)号：

CN211528618U

公开(公告)日：

2020-09-18

发明(设计)人：

贺建文

申请人：

申请人地址：

330096 江西省南昌市高新开发区京东大道1699号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R3152 G01R3154

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

何世磊

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-18	授权	授权

共 50 条

[1]

一种开路、短路测试装置 [P].

刘佰春 .

中国专利 :CN206945875U ,2018-01-30

[2]

一种探针开短路测试装置 [P].

王泽辉 ;

姚燕如 ;

杨登宇 ;

蔡振宇 ;

田慧敏 .

中国专利 :CN220795431U ,2024-04-16

[3]

电路板开短路测试装置 [P].

乔伟雄 ;

唐韬 .

中国专利 :CN204882782U ,2015-12-16

[4]

开短路测试装置及开短路测试设备 [P].

许佑祯 .

中国专利 :CN119556190A ,2025-03-04

[5]

一种短路测试装置及短路测试电路 [P].

林辉城 ;

田光权 ;

李欲强 .

中国专利 :CN208506175U ,2019-02-15

[6]

一种开短路测试装置 [P].

李加余 ;

黄慧 .

中国专利 :CN205643592U ,2016-10-12

[7]

一种HDMI端子开短路测试装置 [P].

丁善舟 .

中国专利 :CN216351023U ,2022-04-19

[8]

多接口开短路测试电路及多接口开短路测试装置 [P].

赖俊 ;

高宇 ;

唐梅花 .

中国专利 :CN209400632U ,2019-09-17

[9]

芯片开短路测试装置 [P].

周武林 .

中国专利 :CN212275891U ,2021-01-01

[10]

一种PCB开短路测试装置 [P].

龚俊 ;

罗士 ;

杨耀果 .

中国专利 :CN202351361U ,2012-07-25

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