一种开短路测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201620497400.2
申请日
2016-05-27
公开(公告)号
CN205643592U
公开(公告)日
2016-10-12
发明(设计)人
李加余 黄慧
申请人
申请人地址
516211 广东省惠州市惠阳区淡水镇新桥村行诚科技园
IPC主分类号
G01R3102
IPC分类号
代理机构
深圳市千纳专利代理有限公司 44218
代理人
童海霓;刘彦
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片开短路测试装置 [P]. 
周武林 .
中国专利 :CN212275891U ,2021-01-01
[2]
一种PCB开短路测试装置 [P]. 
龚俊 ;
罗士 ;
杨耀果 .
中国专利 :CN202351361U ,2012-07-25
[3]
一种IC开短路测试装置 [P]. 
彭海东 ;
穆云飞 .
中国专利 :CN217467085U ,2022-09-20
[4]
一种芯片开短路测试装置 [P]. 
王锐 ;
卢灿恒 ;
莫军 .
中国专利 :CN222365062U ,2025-01-17
[5]
一种探针开短路测试装置 [P]. 
王泽辉 ;
姚燕如 ;
杨登宇 ;
蔡振宇 ;
田慧敏 .
中国专利 :CN220795431U ,2024-04-16
[6]
开短路测试装置 [P]. 
董亚明 ;
赵旭 .
中国专利 :CN112698240A ,2021-04-23
[7]
开短路测试装置 [P]. 
董亚明 ;
赵旭 .
中国专利 :CN112698240B ,2024-08-02
[8]
开短路测试装置及开短路测试设备 [P]. 
许佑祯 .
中国专利 :CN119556190A ,2025-03-04
[9]
一种开短路测试装置 [P]. 
李巍 .
中国专利 :CN115436777A ,2022-12-06
[10]
一种开、短路测试装置 [P]. 
贺建文 .
中国专利 :CN211528618U ,2020-09-18