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开短路测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011322004.3
申请日
:
2020-11-23
公开(公告)号
:
CN112698240B
公开(公告)日
:
2024-08-02
发明(设计)人
:
董亚明
赵旭
申请人
:
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号
IPC主分类号
:
G01R31/52
IPC分类号
:
G01R31/54
G01R31/28
代理机构
:
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
缪成珠
法律状态
:
授权
国省代码
:
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-08-02
授权
授权
共 50 条
[1]
开短路测试装置
[P].
董亚明
论文数:
0
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0
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0
董亚明
;
赵旭
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赵旭
.
中国专利
:CN112698240A
,2021-04-23
[2]
芯片开短路测试装置及系统
[P].
沈丹禹
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沈丹禹
;
杨卓豪
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杨卓豪
;
宋海宏
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宋海宏
.
中国专利
:CN207263883U
,2018-04-20
[3]
一种芯片引脚开短路测试装置
[P].
王锐
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机构:
广芯微电子(广州)股份有限公司
广芯微电子(广州)股份有限公司
王锐
;
苏斌华
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机构:
广芯微电子(广州)股份有限公司
广芯微电子(广州)股份有限公司
苏斌华
;
莫军
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机构:
广芯微电子(广州)股份有限公司
广芯微电子(广州)股份有限公司
莫军
.
中国专利
:CN221977049U
,2024-11-08
[4]
开短路测试装置及开短路测试设备
[P].
许佑祯
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0
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机构:
业泓科技(成都)有限公司
业泓科技(成都)有限公司
许佑祯
.
中国专利
:CN119556190A
,2025-03-04
[5]
芯片开短路测试装置
[P].
周武林
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周武林
.
中国专利
:CN212275891U
,2021-01-01
[6]
芯片开短路测试装置
[P].
周武林
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机构:
江西联智集成电路有限公司
江西联智集成电路有限公司
周武林
.
中国专利
:CN111398792B
,2025-07-22
[7]
芯片开短路测试装置
[P].
周武林
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周武林
.
中国专利
:CN111398792A
,2020-07-10
[8]
一种开短路测试装置
[P].
李巍
论文数:
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李巍
.
中国专利
:CN115436777A
,2022-12-06
[9]
一种开短路测试装置
[P].
李巍
论文数:
0
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机构:
江西晶浩光学有限公司
江西晶浩光学有限公司
李巍
.
中国专利
:CN115436777B
,2024-09-10
[10]
一种存储芯片管脚的开短路测试装置
[P].
叶德明
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叶德明
;
卢浩
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卢浩
;
谢登煌
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谢登煌
;
卢世振
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卢世振
;
龚佳
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龚佳
.
中国专利
:CN218213291U
,2023-01-03
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