开短路测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011322004.3
申请日
2020-11-23
公开(公告)号
CN112698240B
公开(公告)日
2024-08-02
发明(设计)人
董亚明 赵旭
申请人
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号
IPC主分类号
G01R31/52
IPC分类号
G01R31/54 G01R31/28
代理机构
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
缪成珠
法律状态
授权
国省代码
江苏省 苏州市
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共 50 条
[1]
开短路测试装置 [P]. 
董亚明 ;
赵旭 .
中国专利 :CN112698240A ,2021-04-23
[2]
芯片开短路测试装置及系统 [P]. 
沈丹禹 ;
杨卓豪 ;
宋海宏 .
中国专利 :CN207263883U ,2018-04-20
[3]
一种芯片引脚开短路测试装置 [P]. 
王锐 ;
苏斌华 ;
莫军 .
中国专利 :CN221977049U ,2024-11-08
[4]
开短路测试装置及开短路测试设备 [P]. 
许佑祯 .
中国专利 :CN119556190A ,2025-03-04
[5]
芯片开短路测试装置 [P]. 
周武林 .
中国专利 :CN212275891U ,2021-01-01
[6]
芯片开短路测试装置 [P]. 
周武林 .
中国专利 :CN111398792B ,2025-07-22
[7]
芯片开短路测试装置 [P]. 
周武林 .
中国专利 :CN111398792A ,2020-07-10
[8]
一种开短路测试装置 [P]. 
李巍 .
中国专利 :CN115436777A ,2022-12-06
[9]
一种开短路测试装置 [P]. 
李巍 .
中国专利 :CN115436777B ,2024-09-10
[10]
一种存储芯片管脚的开短路测试装置 [P]. 
叶德明 ;
卢浩 ;
谢登煌 ;
卢世振 ;
龚佳 .
中国专利 :CN218213291U ,2023-01-03